• Eventi in arrivo

2010 IEEE IRPS
Anaheim, California USA
May 2-6, 2010
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LED Tech Korea 2010 & Optical Expo 2010
Seoul, Korea
May 12-14, 2010
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NSLS Users’ Meeting
Brookhaven National Laboratory
Upton, NY
May 24-26, 2010
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2010 IEEE Photovoltaic Specialists Conference
Honolulu, Hawaii
June 21-24, 2010
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UGIM 2010 Symposium
Purdue University
West Lafayette, IN
June 28-July 1, 2010
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2010 Intersolar North America
San Franciso, CA
July 13-15, 2010
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MATELEC
Madrid, Spain
October 26-29, 2010
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Componentistica auto

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La Keithley collabora con i fabbricanti d’auto e i loro fornitori fornendo sistemi di test di precisione che aiutano ad accorciare i tempi di introduzione sul mercato, a ridurre i costi QA e a migliorare l’affidabilità. Qualunque sia il campo di interesse, dalla ricerca e sviluppo alla produzione, la Keithley mette a disposizione delle soluzioni di test standard e personalizzate che verificano le funzioni degli assemblaggi, evitano letture errate, eseguono test sui componenti combinati e registrano le caratteristiche dei prodotti. Oltre a questo, le nostre soluzioni sono in grado di aumentare la produttività e di ridurre i costi di test fornendo dei sistemi di instradamento dei segnali con un elevato conteggio di canali che consentono di effettuare delle misurazioni simultanee su più prodotti.