• Eventi in arrivo

2010 IEEE IRPS
Anaheim, California USA
May 2-6, 2010
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LED Tech Korea 2010 & Optical Expo 2010
Seoul, Korea
May 12-14, 2010
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NSLS Users’ Meeting
Brookhaven National Laboratory
Upton, NY
May 24-26, 2010
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2010 IEEE Photovoltaic Specialists Conference
Honolulu, Hawaii
June 21-24, 2010
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UGIM 2010 Symposium
Purdue University
West Lafayette, IN
June 28-July 1, 2010
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2010 Intersolar North America
San Franciso, CA
July 13-15, 2010
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MATELEC
Madrid, Spain
October 26-29, 2010
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Optoelettronica

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La Keithley offre una vasta gamma di soluzioni di test per le aziende impegnate nello sviluppo e nella produzione di componenti e di subassemblaggi optoelettronici utilizzati nei settori della telecomunicazione, della comunicazione di dati, dell’illuminazione ad alte prestazioni e in altre applicazioni ottiche. I prodotti di test della Keithley offrono velocità, risoluzione e precisione, caratteristiche fondamentali per prendere, con velocità e consapevolezza, delle decisioni correlate al design dei prodotti, alla resa della produzione, al monitoraggio dei processi, al raggiungimento delle specifiche e ai dati di taratura. I risultati che ne conseguono sono un abbassamento dei costi di produzione e una riduzione del tempo di immissione sul mercato, ottenuti attraverso il miglioramento della fase di test su diodi laser, fotodiodi, amplificatori ottici, LED, laser per CD/DVD e altri dispositivi optoelettronici attivi. Le soluzioni integrate della Keithley combinano gli strumenti SourceMeter®, i misurati di corrente multicanale sensibili, i controller di temperatura, i commutatori ottici, le sfere di integrazione e le apparecchiature di test correlate per un completo collaudo e una esaustiva caratterizzazione dei dispositivi. Queste soluzioni sono scalabili da strumenti a canale singolo a sistemi chassis/schede ad alta densità . E tutte queste soluzioni offrono un eccellente ROI in ambienti di test parallelo ad alto rendimento e durante il collaudo di dispositivi a più sezioni come i laser sintonizzabili.