• Eventi in arrivo

2010 IEEE IRPS
Anaheim, California USA
May 2-6, 2010
Vail al sito

LED Tech Korea 2010 & Optical Expo 2010
Seoul, Korea
May 12-14, 2010
Vail al sito

NSLS Users’ Meeting
Brookhaven National Laboratory
Upton, NY
May 24-26, 2010
Vail al sito

2010 IEEE Photovoltaic Specialists Conference
Honolulu, Hawaii
June 21-24, 2010
Vail al sito

UGIM 2010 Symposium
Purdue University
West Lafayette, IN
June 28-July 1, 2010
Vail al sito


2010 Intersolar North America
San Franciso, CA
July 13-15, 2010
Vail al sito


MATELEC
Madrid, Spain
October 26-29, 2010
Vail al sito


Ricerca & Educazione

Document Actions


La Keithley ha giocato per più di cinque decenni un ruolo chiave nella ricerca e nella educazione fornendo delle tecniche e apparecchiature di misurazione innovative in grado di supportare le tecnologie più recenti. I più importanti ricercatori di tutto il mondo, compresi dei premi Nobel, scelgono i prodotti della Keithley per misurare i livelli di traccia equivalente di tensione CC, corrente, resistenza e temperatura. La Keithley supporta questi progetti interdisciplinari fornendo degli strumenti di misurazione di qualità professionale che sono tanto facili da adoperare quanto da acquistare. Le nostre apparecchiature si sono guadagnate una reputazione di rilievo tra i ricercatori, gli studenti e le aziende per la loro elevata precisione, robustezza e facilità d’uso, come evidenziato dai 14 riconoscimenti R&D 100 vinti dalla Keithley, che sono premi assegnati alle apparecchiature di precisione che risultino essere dei prodotti di importanza tecnologica introdotti sul mercato.