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Portale / Applicazioni a Livello Industriale / Monitoraggio e registrazione di parametri ambientali da laboratorio - misurazione di temperatura e umidità, comunicazione distribuita/remota, durata prolungata
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2011 NCSLI • NCSL International 50th Anniversary Celebration
National Harbor, MD • USA
August 22-24, 2011
Vail al sito

ICSCRM 2011
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
Cleveland, OH • Renaissance Cleveland Hotel
September 12-16, 2011
Vail al sito

MRS Materials Research Society FALL
Boston, MA • USA
Nov. 28-Dec. 2, 2011
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Monitoraggio e registrazione di parametri ambientali da laboratorio - misurazione di temperatura e umidità, comunicazione distribuita/remota, durata prolungata

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