• Eventi in arrivo

2010 IEEE IRPS
Anaheim, California USA
May 2-6, 2010
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LED Tech Korea 2010 & Optical Expo 2010
Seoul, Korea
May 12-14, 2010
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NSLS Users’ Meeting
Brookhaven National Laboratory
Upton, NY
May 24-26, 2010
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2010 IEEE Photovoltaic Specialists Conference
Honolulu, Hawaii
June 21-24, 2010
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UGIM 2010 Symposium
Purdue University
West Lafayette, IN
June 28-July 1, 2010
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2010 Intersolar North America
San Franciso, CA
July 13-15, 2010
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MATELEC
Madrid, Spain
October 26-29, 2010
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Telecomunicazioni

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Le pressioni esercitate sui tecnici di produzione nel settore della telecomunicazione per ridurre i tempi e aumentare la resa delle fasi di collaudo stanno facendo crescere la richiesta di apparecchiature più efficienti in grado di fornire una produttività e una precisione di livello superiore. Nelle aree di produzione per applicazioni quali test CC, test o simulazione di batterie, test su frequenze audio e test su fasi RF si avverte pertanto la necessità di nuovi sistemi di collaudo. La Keithley mette a disposizione una vasta gamma di soluzioni di test per lo sviluppo e il collaudo di prodotti in grado di vincere alcune delle principali sfide con le quali le aziende produttrici di apparecchiature per le telecomunicazioni si devono misurare, comprese la verifica del design, i test sull’affidabilità ambientale, il controllo della qualità, il miglioramento della produttività e i test funzionali ad alto rendimento.