Comunicati stampa

Disponibile da Keithley Instruments un CD Gratuito Contenente Tutorial sui Collaudi per il Settore delle Nanotecnologie
Cleveland, Ohio, 13 Luglio 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), società di primo piano nello sviluppo di sistemi e strumenti per collaudi elettrici avanzati ha annunciato la disponibilità su CD di libreria completa per i collaudi nel campo delle nanotecnologie.

Una Nuova Guida su CD di Keithley Instruments Svela Tutti i Segreti della Misura e del Collaudo Elettrici
Cleveland, Ohio, Aprile 2010 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha di recente annunciato la disponibilità di un CD tutoriale che illustra tecniche pratiche e utili per ottenere le misure più accurate e precise possibili.

Disponibile su CD una Libreria Tecnica sui Multimetri Digitali di Keithley Instruments
Cleveland, Ohio, Marzo 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato la disponibilità di una libreria tecnica sui multimetri digitali (DMM) destinata a ingegneri e ricercatori che utilizzano questi strumenti in un’ampia gamma di applicazioni.

Disponibile su CD il Catalogo 2010 dei Prodotti T&M di Keithley Instruments
Cleveland, Ohio, Marzo 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato la disponibilità cu CD dell’edizione 2010 del proprio catalogo di prodotti di misura e collaudo.

Il Nuovo Sistema I-V Ad Altissima Velocita’ Di Keithley Instruments Integra Le Tre Principali Funzioni Di Caratterizzazione In Un Unico Chassis
Cleveland, Ohio, 18 Febbraio 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEY), società specializzata nello sviluppo di sistemi e strumenti per test elettici avanzati, ha annunciato l’introduzione di una nuova opzione per il proprio sistema per la caratterizzazione dei semiconduttori mod. Model 4200-SCS.

LeCroy Integra il Sistema di Commutazione Rf/Microonde di Keithley Instruments nella proprio Soluzione di Collaudo Integrata per USB 3.0
Cleveland, Ohio, Febbraio 2010 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEY), società specializzata nello sviluppo di sistemi e strumenti per test elettici avanzati, ha reso noto che LeCroy Corp., azienda di primo piano nel settore delle soluzioni di collaudo per dati seriali ha deciso di integrare il sistema di commutazione per RF/microonde S46 nel proprio apparato di collaudo (Test Suite) per USB 3.0.

Keithley Instruments Annuncia la Vendita della Propria Linea di Prodotti RF
Cleveland, Ohio, Novembre 2009 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEY), società specializzata nello sviluppo di sistemi e strumenti per test elettici avanzati, ha annunciato di aver siglato un accordo definitivo per la vendita della propria linea di prodotti RF ad Agilent Technologies.

Keithley Instruments amplia la Gamma di Strumenti di Erogazione-Misura in C.C. Compatibili con il Software ACS basic edition
Cleveland, Ohio, Agosto 2009 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEY), società di primo piano nello sviluppo di sistemi e strumenti per il collaudo elettrico avanzato, ha annunciato un’estensione del proprio software ACS Basic Edition che ora è in grado di supportare una gamma più ampia di SMU (Source-Measure Unit – unità di erogazione-misura).

La Nuova Scheda a Matrice 6×16 Ad Alta Velocita’ e Lunga Durata Amplia la Gamma Delle Schede Plug-In per la Famiglia di Mainframe di Commultazione/ Multimetro Serie 3700 di Keithley Instruments
Cleveland, Ohio, 6 Luglio 2009 -- Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato l’espansione della propria famiglia di mainframe di commutazione con multimetro opzionale e schede plug-in serie 3700 con l’introduzione di una nuova scheda di commutazione. Il nuovo mod. 3731 è una scheda in configurazione a matrice 6 x 16 ad alta velocità con relè reed (a lamina).

Un Nuovo Toolkit di Rappresentazione Grafica Gratuito per la Piattaforma Di Commutazione/Multimetro di Keithley Instruments Permette di “Visualizzare In Anticipo” Dati Acquisiti
Cleveland, Ohio, Giugno 2009

Seminari Web Gratuiti sulle Misure Elettriche utilizzate per I Dispositivi Fotovoltaici/Celle Solari
Cleveland, Ohio, Maggio 2009 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società specializzata nello sviluppo di sistemi e strumenti per test elettici avanzati, ha annunciato la prossima trasmissione di un seminario gratuito diffuso via Web dal titolo: “Photovoltaic Measurements: Testing the Electrical Properties of Today’s Solar Cells”. Questo seminario verrà trasmesso mercoledì 27 maggio prossimo. Nel corso dell’evento, della durata di un’ora, verrà fornita una panoramica delle misure elettriche utilizzate nello sviluppo dei dispositivi fotovoltaici , dalla fase di ricerca di base al collaudo nelle fasi iniziali della produzione.

Un Nuovo White Paper Di Keithley Instruments Analizza le Principali Problematiche del Test Parametrico e della Caratterizzazione dei Semiconduttori
Cleveland, Ohio, Aprile 2009 * * * Keithley Instruments Inc.

Il Tour dei Seminari Keithley Instruments in Italia
In questa serie di seminari verranno esaminate le più recenti innovazioni di misura e collaudo delle nanotecnologie e dei sistemi elettronici

Un'unica Soluzione di Interconnessione A Segnali Misti Per Le Apparecchiature di Caratterizzazione e i Prober di Dispositivi a Semiconduttore ora Disponibile da Keithley Instruments
Cleveland, Ohio, 20 Marzo 2009 * * * Keithley Instruments Inc.

I Nuovi Upgrade del Mod. 4200-SCS di Keithley Instruments Revedono Nuove Librerie Per il Collaudo di Celle Solari, l’Ampliamento del Range di Frequenza per le Misure C-V e il Supporto dello Chassis a Nove Slot
Cleveland, Ohio, 20 Marzo 2009 * * * Keithley Instruments Inc.

La Strumentazione T&M di Keithley Instruments offerta a Condizione Estremamente Vantaggiose
Cleveland, Ohio, Marzo 2009 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società specializzata nello sviluppo di sistemi e strumenti per test elettici avanzati, ha annunciato l’avvio di una promozione che prevede uno sconto del 20% del prezzo di listino su alcune categorie di strumenti di misura e collaudo. Questa offerta, che riguarda solamente i clienti europei, ha decorrenza immediata e terminerà il 31 maggio di quest’anno.

Disponibile da Keithley Instruments l’Edizione 2009 della guida ai prodotti T&M
Cleveland, Ohio, Febbraio 2009

Keithley Instruments amplia la Famiglia di Sistemi di Commutazione/Mutimetro Serie 3700 con due nuove Schede Plug-In
Cleveland, Ohio, Luglio 2008 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato di aver ampliato la propria famiglia formata da un mainframe di commutazione con multimetro opzionale e schede plug-in serie 3700 con l’aggiunta di due nuove schede: il mod.3724 e il mod. 3750.

Caratterizzazioni C-V, I-V e I-V impulsive migliorate con il nuovo aggiornamento Software KTEI V7.1 per il Mod. 4200-SCS di Keithely Instruments
Cleveland, Ohio, Luglio 2008 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha reso noto l’introduzione di KTEI V7.1, una versione di aggiornamento del software di misura KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori mod.

Accordo di Collaborazione tra Keithley Instruments e Azimuth Systems per lo Sviluppo di Soluzioni per il Collaudo delle Tecnologie WiMAX e LTE
Cleveland, Ohio, Giugno 2008 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura,ha annunciato un accordo di collaborazione con Azimuth Systems (Acton, MA), specializzata nella realizzazione di apparecchiature per il test di soluzioni a larga banda wireless ed emulatori di canale per le tecnologie WiMAX, 4G e Wi-Fi.

Robert Fulks riceve il premio IEEE “Joseph F. Keithley” per i rilevanti contributi nel Campo delle Misure Elettriche
Cleveland, Ohio, Giugno 2008 * * * IEEE (Insttute of Electrical and Electronics Engineers) ha annunciato che Robert G. Fulks è il vincitore dell’edizione 2008 del premio “Joseph F. Keithley”, per il settore della strumentazione e della misura.

Tutte le Informazioni sulle Tecniche di Erogazione e Misura di Precisione nella nuova Guida su CD di Keithley Instruments
Cleveland, Ohio, Maggio 2008 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha di recente annunciato la disponibilità della nuova “Precision Sourcing and Measurement Resource Guide”.

Da Keithley Instruments la Nuova Edizione della Guida alla Commutazione dei Segnali
Cleveland, Ohio, Maggio 2008 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha di recente pubblicato la sesta edizione del proprio manuale sulla tecnologia di commutazione dei segnali dal titolo: “A Guide to Signal Switching in Automated Test Systems”.

Il Sistemi di Test ACS (Automated Characterization Suite) e’ in Grado di Completare il Collaudo di Affidabilita’ a Livello di Wafer a una Velocita’ cinque volte superiore rispetto a quella delle Soluzioni tradizionali
Cleveland, Ohio, Maggio 2008 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato di aver apportato significative migliorie al software ACS (Automated Characterization Suite) che ora include come opzione i tool per il collaudo WLR (Wafer Level Reliability) utili per prevedere la durata e l’affidabilità dei dispositivi a semiconduttore.

Applicazioni Di Test Per Dispositivi A Semiconduttore: Tutti I “Segreti” Nel Nuovo CD Gratuito Di Keithley Instruments
Cleveland, Ohio, Maggio 2008 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato la disponibilità di “Semiconductor Device Test Applications Guide”.

Intesa tra Keithley Instruments e Stratosphere Solutions per consentire la Caratterizzazione di Processi Avanzati con Geometrie Uguali o Inferiori a 65 nm
Cleveland, Ohio, Febbraio 2008 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato di aver stipulato un accordo di cooperazione con Stratosphere Solutions, Inc., azienda con sede a Sunnyvale (CA) specializzata nella realizzazione di soluzioni innovative per il miglioramento della resa parametrica destinate ai produttori di circuiti integrati.

La Versione 3.2 del Software ACS di Keithley Instruments integra nuove Funzionalita’ per il Test Parallelo e la Selezione del Die per aumentare il Throughput
Cleveland, Ohio, Gennaio 2008 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato la disponibilità della versione 3.2 del software ACS (Automated Characterization Suite) per la caratterizzazione dei semiconduttori a livello di dispositivo, wafer e cassetti.

Collaudi impulsivi, C-V E I-V piu’ semplici, veloci ed economici con il nuovo Modulo C-V E Il Software disponibili per il Sistema 4200-SCS
Cleveland, Ohio, SEMICON Europa, Stuttgart, October 9, 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato la disponibilità di un nuovo strumento per le misure C-V per il proprio sistema per la caratterizzazione dei semiconduttori mod.

Il Centro di Assistenza di Keithley Instruments ubicato in Germania si aggiunge alla Lista dei Laboratori Accreditati ISO 17025
Cleveland, Ohio, Germering, Germania, Ottobre 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato che il proprio centro di assistenza ubicato in Germania ha ricevuto da parte della American Association for Laboratory Accreditation (A2LA) la certificazione di conformità alla normativa ISO/IEC 17025:2005.

Partnership tra Keithley Instruments e CNSI per le Misure nel Campo delle Nanotecnologie
Cleveland, Ohio, Settembre 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato una partnership con il California NanoSystems Institute presso UCLA.

Le due nuove Versioni a Bassa Corrente della Linea Soucemeter® di Keithley Instruments Permettono di effettuare Test Parametrici in Maniera piu’ Veloce ed Economica
Cleveland, Ohio, Settembre 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha di recente ampliato la propria linea SourceMeter® serie 2600 con l’introduzione di due strumenti che permettono alla società di rendere disponibile la soluzione più avanzata ed economica per l’analisi e il test parametrico dei semiconduttori.

La Nuova Piattaforma di Commutazione di Keithley Instruments Garantisce un Elevato Throughput in Fase di Switching dei Segnali, conforme alle Specifiche LXI Class B e Dispone di un DMM integrato opzionale ad alte Prestazioni
Cleveland, Ohio, Settembre 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato l’introduzione della famiglia formata da un mainframe di commutazione con multimetro opzionale e schede plug-in serie 3700.

Disponibili da Keithley Instruments i Sistemi di Test Parametrici Basati su Linux
Cleveland, Ohio, Giulio, 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha apportato una nutrita serie di migliorie ai propri sistemi di test parametrici della serie S600.

Si Amplia la Disponibilita’ di Sonde Avanzate per i Tester Parametrici di Keithley Instruments
Cleveland, Ohio, Giulio, 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato di aver proceduto alla qualificazione di FormFactor, Inc. (Nasdaq: FORM), la quale potrà quindi realizzare le sonde (probe cards) ad alte prestazioni per i tester parametrici per semiconduttori di Keithley.

Accordo di Sviluppo Congiunto tra Keithley Instruments e CEA Leti per Favorire l’Innovazione nei Settori delle Nanotecnologie e dei Materiali Semiconduttori
Cleveland, Ohio, Giulio, 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato di aver stipulato un accordo di collaborazione congiunto (JDP – Joint Development Partnership) relativo alle tecnologie di collaudo di materiali per semiconduttori con CEA Leti, uno dei più avanzati laboratori per lo sviluppo dei semiconduttori.

Keithley Instruments Premiata Come “Fornitore di Eccellenza” da Texas Instruments
Cleveland, Ohio, Giulio, 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha ricevuto il premio come fornitore di eccellenza per il 2006 (2006 Supplier Excellence Award) da parte di Texas Instruments.

Keithley Instruments introduce Sistemi di Test Integrati per semplificare e accelerare il Collaudo dei Semiconduttori
Cleveland, Ohio, Aprile 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha reso noto l’introduzione dei sistemi di test integrati ACS (Automated Characterization Suite) per la caratterizzazione dei semiconduttori a livello di dispositivo, wafer e cassette.

Da Keithley Instruments un nuovo Manuale per le MisureNel Campo delle Nanotecnologie
Cleveland, Ohio, Aprile 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha di recente pubblicato un manuale relativo alle misure nel campo delle nanotecnologie.

Keithley Instruments Introduce Funzionalita’ Avanzate per le Misure Impulsive E I-V Impulsive Utilizzate nel Test di Semiconduttori Avanzati
Cleveland, Ohio, Aprile 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato l’introduzione di significative migliorie a livello sia hardware che software per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori mod.

Nel Nuovo Manuale Di Keithley Instruments Tutti I Segreti Dell’acquisizione Dati, Della Misura E Del Controllo
Cleveland, Ohio, Marzo 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha di recente pubblicato un nuovo manuale dal titolo: “Understanding New Development in Data Acquisition, Measurement and Control”.

Keithley Instruments premiata per l’eccellente Livello di “Customer Satisfaction” fornito ai propri Clienti nel Settore dei Semiconduttori
Cleveland, Ohio, Febbraio 2007 * * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha ottenuto un importante riconoscimento per quanto concerne la “customers satisfaction” da parte di VLSI Research, Inc., società di servizi che si occupa tra l’altro di fornire valutazioni indipendenti da parte dei clienti sui fornitori di apparecchiature destinate al mondo dei semiconduttori.

Da Keithley Instruments un nuovo Manuale Per Il Test Parametrico Parallelo
Cleveland, Ohio, Febbraio 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha recentemente pubblicato un nuovo manuale relativo al test parametrico dei semiconduttori dal titolo: “Parallel Test Technology: the new paradigm for parametric testing”.

La Nuova Release del Software KTE di Keithley Instruments garantisce un miglior Supporto per il Test Parallelo, il Collaudo RF e assicura una maggiore Semplicita’ d’Uso
Cleveland, Ohio, Dicembre 2006 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), ha annunciato l’introduzione del release 5.2 del proprio software KTE (Keithley Interactive Test Environment) per i sistemi di test parametrici della Serie S600.

Keithley Instruments introduce una Scheda d’Interfaccia GPIB completa a basso Costo
Cleveland, Ohio, Dicembre 2006 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni per soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato la disponibilità di una scheda plug-in di interfaccia per controller GPIB a basso profilo.

Misure Impulsive Migliorate con la Nuova Versione del Software di Test di Keithley Instruments
Cleveland, Ohio, Novembre 2006 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha reso noto l’introduzione di KTE Interactive V6.1, una versione aggiornata del software di misura KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori mod. 4200-SCS (SCS – Semiconductor Characterization System).

Accordo tra Keithley Instruments e Mesatronic per la realizzazione di Sonde per Misure Combinate DC/RF Economiche e ad alte Prestazioni da Utilizzare con i Tester Parametrici per Wafer
Cleveland, Ohio, Novembre 2006 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato di aver stipulato un accordo con il gruppo Mesatronic (Voiron, Francia) finalizzato allo sviluppo di sonde (probe cards) avanzate per i tester parametrici per semiconduttori utilizzati per le misure in continua (DC) a basso livello e in radiofrequenza (RF).

Keithley Instruments introduce una nuova Linea di Generatori di Impulsi/Pattern
Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni per nuove esigenze di misura, ha annunciato l'introduzione dei generatori di impulsi/pattern della serie 3400.

Keithley Instruments protagonista del nuovo Standard IEEE relativo ai Test su Nanotubi di Carbonio
Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato che il proprio sistema per la caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttore mod. 4200 è conforme e supporta lo standard di recente rilasciato da IEEE (Institute of Electrical and Electronic Engineers) relativo al collaudo elettrico dei nanotubi di carbonio.

Keithley Instruments amplia la propria linea di SMU più veloci, economiche e compatte sul mercato
Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato l'ampliamento della propria linea di strumenti SourceMeter serie 2600. I nuovi modelli 2611 e 2612, sono in grado di gestire elevati valori di corrente e di tensione e vanno a completare l'innovativa piattaforma SMU (Source-Measure Unit - Unità per erogazione e misura) introdotta lo scorso anno, contribuiendo a ridurre sensibilmente il costo del test per molti componenti elettronici.

Keithley Instruments Pubblica La Nuova Edizione Della Guida Alla Commutazione
Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha pubblicato la quinta edizione della sua guida dedicata alla commutazione.

Keithley Instruments apre nuovi Uffici in Asia per garantire un Supporto ottimizzato al Mercato locale
Cleveland, Ohio, Ottobre 2005 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato di aver incrementato in maniera significativa la propria presenza nel Sud Est asiatico con l’ampliamento della sede di Singapore e l’apertura di due nuovi uffici in Malesia per la vendita diretta e il supporto delle proprie soluzioni di test e misura.

Keithley Instruments introduce un Sistema per il Test di affidabilita' dei Semiconduttori con Geometrie da 65 nm ed Inferiori
Cleveland, Ohio, Aprile 2005 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le esigenze di misura emergenti, ha annunciato la disponibilità di un nuovo sistema per il test dell'affidabilità dei semiconduttori. Il nuovo sistema modello S510 è una soluzione "chiavi in mano" ad elevato numero di canali da utilizzare per il collaudo di affidabilità e la simulazione (modellizzazione) della durata dei più avanzati semiconduttori ULSI realizzati con processi CMOS uguali o inferiori a 65 nm.

Keithley introduce una famiglia di soluzioni per acquisizione dati su bus USB
Cleveland, Ohio, Marzo 2005 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha reso noto di aver introdotto una nuova serie di soluzioni per acquisizione dati (DAQ).

Hynix assegna a Keithley Instruments un ordine ricorrente per parecchi milioni di dollari per il Sistema di Test di Semiconduttori Mod. S680 DC/RF nel collaudo in Produzione di Wafer da 300 mm
Cleveland, Ohio, 15 Marzo 2005 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato di aver ricevuto un ordine del valore di parecchi milioni di dollari per i sistemi di test parametrico S680 DC/RF da parte di Hynix, Semiconductor. L'azienda coreana è uno dei principali produttori a livello mondiale di memorie DRAM (Dynamic Random Access Memory).

Keithley presenta le Source-Measure Units per applicazioni multicanale più veloci, compatte ed economiche sul mercato.
Cleveland, Ohio, Marzo 2005 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha ampliato la propria linea di SourceMeter con l'introduzione della serie 2600, una nuova piattaforma che consente di abbassare drasticamente i costi di collaudo per numerosi produttori di componenti elettronici, compresi quelli che realizzano semiconduttori utilizzando silicio o materiali composti.

Opzione per Misure RF su Wafer di terza Generazione
Cleveland, Ohio, Marzo 2005 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato l'introduzione di una nuova opzione per effettuare misure RF direttamente per il controllo del processo di produzione di tipo parametrico di dispositivi a semiconduttore.

Keithley Instruments introduce il sistema di commutazione "Half Rack" a piú elevata densitá disponibile sul mercato
Cleveland, Ohio, Gennaio 2005 - società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato la disponibilità di un mainframe a doppio slot a elevata densità e di due nuove schede che si propone come una soluzione di commutazione a elevata densità offerta a un prezzo inferiore del 40% rispetto ad analoghe piattaforme presenti sul mercato.

In un CD gratuito tutte le Tecniche per la Verifica di affidabilitá dei dispositivi a Semiconduttore
Cleveland, Ohio, Gennaio 2005 - società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato la disponibilità di un CD interattivo destinato agli ingegneri che si occupano delle verifiche di affidabilità dei dispositivi a semiconduttore.

Disponibile il Catalogo 2005 di Keithley Instruments
Cleveland, Ohio, Gennaio 2005 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato la disponibilità del catalogo 2005.

Adattatore di Interfaccia USB/GPIB
Cleveland, Ohio, Ottobre 2004 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), uno dei maggiori produttori a livello mondiale di sistemi e strumenti adatti a soddisfare le più avanzate esigenze di misura ha di recente annunciato un nuovo adattatore di interfaccia da USB a GPIB. Il mod. KUSB-488 trasforma qualsiasi computer dotato di una porta USB in un controllore IEEE 488.2 in grado di controllare fino a un massimo di 14 strumenti GPIB programmabili.

In un Manuale gratuito per Misure di Basso Livello tutte le Tecniche per eseguire Misure accurate e sensibili
Cleveland, Ohio - October 6, 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), a leader in solutions for emerging measurement needs, has published an updated version of its popular reference book titled, "Low Level Measurements Handbook: Precision DC Current, Voltage, and Resistance Measurements".

Barbara V. Scherer Joins Keithley's Board of Directors
Cleveland, OH - September 3, 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), a leader in solutions for emerging measurement needs, today announced that Barbara V. Scherer has been appointed to the Company's Board of Directors.

Keithley Instruments riceve un Ordine per numerosi Sistemi di Test
Cleveland, Ohio, Settembre 2004 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), azienda leader nello sviluppo di soluzioni atte a soddisfare esigenze di misura sempre più complesse, ha annunciato di aver ricevuto un importante ordine da parte di uno dei maggiori produttori coreani di semiconduttori.

Sistema per il Test di Wafer da 200 mm per Tecnologie di Processo da 130 nm
Cleveland, Ohio, Agosto 2004 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), azienda leader nello sviluppo di soluzioni atte a soddisfare esigenze di misura sempre più complesse, ha annunciato l'introduzione di un nuovo sistema di test parametrico "pronto all'uso" che non ha rivali in termini di costo per pin e di rapporto prezzo/prestazioni. Il sistema di test

Nuovo Nanovoltmetro che permette di Eliminare il Rumore nelle Misure di Tensione di Basso Livello
Cleveland, Ohio, Luglio 2004 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), azienda leader nello sviluppo di sistemi e strumenti avanzati per collaudi di natura elettrica, ha annunciato l'introduzione di un nanovoltmetro ottimizzato per l'esecuzione di misure a basso rumore destinato ad applicazioni in settori quali ricerca, nanotecnologie, metrologia, superconduttività e più in generale laddove sono presenti valori estremamente ridotti di tensione e di resistenza.

Keithley Annuncia Generatori di Corrente c.a./c.c. e c.c. di Precisione
Cleveland, Ohio, Luglio 2004 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), azienda leader nello sviluppo di sistemi e strumenti avanzati per collaudi di natura elettrica, ha annunciato l'introduzione del modello 6221, un generatore di corrente c.a. e c.c. e del modello 6220, un generatore di corrente in c.c..

Keithley Amplia le Capacità di Misura RF a quelle di Qualità di Modulazione per Trasmettitori GSM
Cleveland, OH - Luglio 7, 2004 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEI), leader a livello mondiale nello sviluppo di sistemi e strumenti avanzati per collaudi di natura elettrica, ha aggiunto una nuova opzione per effettuare misure della qualità di modulazioni di trasmettitori GSM al proprio analizzatore di potenza RF mod. 2800.

In un CD gratuito di Keithley tutti i Segreti delle Tecniche di Misura
Cleveland, OH - Marzo 25, 2004 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEI) ha annunciato la disponibilità a titolo gratuito di un CD contenente una raccolta dei suoi seminari on line aventi per oggetto le tecniche di misura. Il nuovo CD "Making Measurements with Confidence" illustra in dettaglio tutte le tecniche da utilizzare per eseguire misure caratterizzate da elevati livelli di accuratezza e precisione.

Toolkit Software gratuito per semplificare le Misure nel settore delle Nanotecnologie
Cleveland, OH - Marzo 3, 2004 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEI) società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni atte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha realizzato un insieme di tool software destinato al mondo delle nanotecnologie: il nuovo Nanotech Toolkit, infatti, è in grado di aiutare i ricercatori che operano in questo settore nell'esecuzione di misure elettriche, spesso complesse, che devono essere caratterizzate da un elevato livello di precisione.

Accordo di Cooperazione tra Keithley Instruments e SUNY-Albany Nanotech Center
Cleveland, OH - Febbraio 3, 2004 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEI) uno dei maggiori produttori a livello mondiale di strumenti per misure di segnali elettrici di basso livello, ha annunciato la stipula di un accordo con l'Albany NanoTech Center dell'università di Albany, che fa capo a SUNY (State University of New York): obbiettivo dell'intesa è la condivisione di informazioni e la cooperazione congiunta nei settori delle tecnologie optoelettroniche e delle nanotecnologie.

Tester Parametrico per il collaudo di Wafer da 300 mm
Cleveland, Ohio, Gennaio 2004 - Il nuovo sistema mod. S680DC/RF di Keithely Instruments è in grado dieseguire il collaudo di wafer da 300 mm a una velocità confrontabile conquella richiesta per il test di wafer da 200 mm

Una Soluzione universale per il collaudo di Semiconduttori
Cleveland, Ohio, Gennaio 2004 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY) ha annunciato la disponibilità del mod. 4200-SCS (Semiconductor Characterization System), sistema per la caratterizzazione dei semiconduttori con la release 5.0 del software KTEI (Keithley Test Environment Interactive).

Nuove Schede per il Sistema di Test I-V Mod. 4500-MTS
Cleveland, Ohio, Gennaio 2004 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY) ha annunciato l'introduzione di due schede di test che integrano funzioni di erogazione e di misura da utilizzare insieme al proprio sistema per il collaudo I-V multicanale mod. 4500-MTS. Le nuove schede modd. 4510 e 4511-QIVC (Quad I-V Card) mettono a disposizione quattro canali di erogazione e misura in ciascuno dei nove slot del mainframe PCI mod.