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Un Nuovo White Paper Di Keithley Instruments Analizza le Principali Problematiche del Test Parametrico e della Caratterizzazione dei Semiconduttori

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Cleveland, Ohio, Aprile 2009 * * * Keithley Instruments Inc.

FOR IMMEDIATE RELEASE


 
Contact: Mark J. Plush
Vice President and CFO
Keithley Instruments, Inc.
investor_relations@keithley.com

Reader Inquiries: (888) 534-8453

Un Nuovo White Paper Di Keithley Instruments Analizza le Principali Problematiche del Test Parametrico e della Caratterizzazione dei Semiconduttori


Cleveland, Ohio, Aprile 2009   * * *  Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società specializzata nello sviluppo di sistemi e strumenti per test elettici avanzati, ha di recente pubblicato un white paper che descrive l’evoluzione che stanno subendo le soluzioni per il test parametrico e la caratterizzazione dei semiconduttori per seguire i rapidi cambiamenti che si verificano nell’industria dei semiconduttori.
Questo white paper, che può essere scaricato dall’indirizzo:
www.keithley.com/navigate
Illustra le tecnologie emergenti e le dinamiche di business che caratterizzano l’industria dei semiconduttori, tra cui la sempre maggior esigenza di un supporto qualificato dal parte del costruttore. In questo white paper vengono anche analizzati le richieste del mercato che influenzano le scelte progettuali di Keithley Instruments nello sviluppo delle soluzioni di test, tra cui: la crescente esigenza di memorie non volatili, l’ampliamento dei set di dati da analizzare, l’aumento dell’importanza del collaudo di affidabilità dei dispositivi, il crescente interesse verso i dispositivi in grado di effettuare operazioni di conversione di potenza e garantire elevati livelli di efficienza, i differenti requisiti di collaudo dei nuovi materiali a semiconduttore.
Nel white paper vengono anche descritte le soluzioni che Keithley propone per soddisfare queste esigenze di collaudo nel campo del collaudo dei semiconduttori, tra cui:

  • SourceMeterÒ della serie 2600
  • Sistema per la caratterizzazione dei semiconduttori mod. 4200-SCS
  • Sistemi ACS (Automated Characterization Suite)
  • Altri strumenti caratterizzati da alta velocità ed elevata accuratezza

Keithley Instruments è un’azienda di primo piano nel settore delle soluzioni per il test parametrico e la caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttore capaci di offrire ai clienti di tutto il mondo una gamma completa di soluzioni flessibili per analisi e misure I-V, C-V e I-V impulsive. La gamma di prodotti spazia dagli strumenti da banco a sistemi “chiavi in mano” utilizzati nelle più diverse applicazioni quali analisi dei materiali, caratterizzazione dei dispositivi, affidabilità a livello di wafer e monitoraggio del controllo di processo. Keithley Instruments collabora attivamente con i propri clienti operanti nel settore dei semiconduttori attraverso la propria rete di centri di supporto sul campo e di ingegneri di applicazione con uno specifico know how nella tecnologia dei semiconduttori.
Ulteriori informazioni sono disponibili sul sito Web della società all’indirizzo:
www.keithley.com.
Note sulla società
Con un’esperienza di 60 anni nel campo della strumentazione di misura, Keithley Instruments è diventata un’azienda leader a livello mondiale nella realizzazione di sistemi e strumenti di collaudo elettrici dalla continua alla radiofrequenza. I prodotti della società sono in grado di soddisfare le nuove esigenze di misura nei settori del collaudo di produzione, monitoraggio di processo, sviluppo di prodotti e ricerca. Gli utilizzatori sono scienziati e ingegneri operanti nel settore elettronico coinvolti in attività quali ricerca nel campo dei materiali avanzati, caratterizzazione di wafer e di dispositivi a semiconduttore e produzione di prodotti finali come assemblaggi di componenti elettronici o dispositivi wireless portatili. Oltre a strumenti decisamente all’avanguardia, Keithley mette a disposizione una serie di servizi di supporto qualificati che permettono ai clienti di migliorare qualità, throughput e rese dei loro prodotti. www.keithley.com.



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Ultima modifica 2009-04-20