Portale / Comunicati stampa / La nuova release del software per semiconduttori di Keithley assicura un supporto più ampio per il collaudo di affidabilità e dei dispositivi ad alta Potenza

La nuova release del software per semiconduttori di Keithley assicura un supporto più ampio per il collaudo di affidabilità e dei dispositivi ad alta Potenza

Document Actions
Cleveland, Ohio, 25 Gennaio 2012 * * * Keithley Instruments, Inc., società di primo piano nello sviluppo di strumenti e sistemi per il collaudo elettrico avanzato ha annunciato l’aggiornamento delle funzionalità del proprio ambiente di collaudo ACS (Automated Characterization Suite). La versione 4.4 di ACS è stato progettata per l’utilizzo con un gran numero di configurazioni di strumenti e sistemi di Keithley che vengono solitamente impiegati per l’analisi di affidabilità e la caratterizzazione dei dispositivi automatizzate.
La nuova release del software per semiconduttori di Keithley assicura un supporto più ampio per il collaudo di affidabilità e dei dispositivi ad alta Potenza

Per ulteriori informazioni è possibile visitare il sito all’indirizzo:
www.respond1.com/keithley/acs4-4/acs_4.4_KW_vid.html


La nuova release del software per semiconduttori di Keithley assicura un supporto più ampio per il collaudo di affidabilità e dei dispositivi ad alta Potenza


Cleveland, Ohio, 25 Gennaio 2012   * * *   Keithley Instruments, Inc., società di primo piano nello sviluppo di strumenti e sistemi per il collaudo elettrico avanzato ha annunciato l’aggiornamento delle funzionalità del proprio ambiente di collaudo ACS (Automated Characterization Suite). La versione 4.4 di ACS è stato progettata per l’utilizzo con un gran numero di configurazioni di strumenti e sistemi di Keithley che vengono solitamente impiegati per l’analisi di affidabilità e la caratterizzazione dei dispositivi automatizzate. Essa supporta un’ opzione migliorata per il test di affidabilità (Mod. ACS-2600-RTM), oltre a funzionalità avanzate per il collaudo BTI (Bias Temperature Instability) e il collaudo ad elevate corrente di componenti di potenza: sono altresì disponibili nuove librerie di progetto espressamente concepite per applicazioni di collaudo quali affidabilità ad alta tensione, pompa di carica, affidabilità in presenza di sollecitazioni impulsive e migrazione delle sollecitazioni. La nuova release è ora in grado di supportare i sistemi operativi Windows® 7, in modo da semplificare la conformità ai requisiti dei sistemi e dei PC attualmente installati in ambito aziendale e di fabbrica. Ulteriori informazioni sono disponibili all’indirizzo: www.keithley.com/products/semiconductor/characterizationsoftware/ACS2600RTM/?mn=ACS-2600-RTM.


Una nuova opzione per il collaudo di affidabilità
ACS V4.4 supporta un modulo opzionale per il collaudo di affidabilità (Mod. ACS-2600-RTM) che semplifica la creazione e l’esecuzione di sequenze di test – sollecitazione, misura, analisi – utilizzate nei collaudi di affidabilità dei dispositivi come HCI, TDDB, NBTI, J-Ramp e numerosi altri ancora. Questo modulo software aggiornato mette a disposizione degli ingegneri che si occupano dell’analisi e del collaudo di affidabilità dei dispositivi nei laboratori di R&D o in produzione gli strumenti necessari per aumentare la loro produttività in fase di collaudo, sia che si tratti della caratterizzazione di un singolo dispositivo oppure della gestione del test di un gran numero di dispositivi. ACS rappresenta un valido ausilio per gli utilizzatori nella gestione di complesse configurazioni di sistema, nella definizione rapida di parametri di test comuni a numerosi gruppi di dispositivi o a parecchi sottogruppi, nello svolgimento dei test con riscontri dei risultati durante l’esecuzione stessa (run-time) e nella minimizzazione dei tempi richieste per iniziare l’analisi della grande quantità di dati ottenuta dai risultati di misura.

Al fine di garantire una risposta adeguata ai comportamenti associati ai meccanismi di guasto dei dispositivi a semiconduttori che si manifestano a una velocità molto elevate e produrre la mole di dati richiesta per il collaudo di affidabilità di più dispositivi in parallelo, non solo ciascuna SMU (Source Measurement Unit) presente in una configurazione di test deve essere veloce, ma lo devono essere anche tutti i canali della SMU che operano alla stregua di un singolo gruppo o di diversi sottogruppi. Per l’esecuzione di collaudi di affidabilità di questo tipo, il Mod. ACS-2600-RTM è stato progettato per ottimizzare le prestazioni dei SourceMeter® della serie 2600A di Keithely, che abbinano avanzate funzioni di scripting (grazie all’utilizzo dei processori TSP - Test Script Processor – presenti a bordo) alla possibilità di integrare diverse unità attraverso il bus di comunicazione ad alta velocità TSP-Link®. ACS sfrutta la velocità intrinseca degli strumenti della serie 2600A per accelerare il processo di riconfigurazione del sistema, trasferire le condizioni di test e gli script ai processori embedded presenti nei singoli strumenti e ridurre il tempo richiesto per l’inizio dell’esecuzione. Gli ingegneri di test possono utilizzare il software ACS e il Mod. ACS-2600-RTM opzionale con i singoli strumenti della serie 2600A o con i sistemi di test integrati S500 di Keithley.
Il modulo aggiornato assicura altri importanti benefici per il collaudo di affidabilità dei dispositivi. Per esempio, la limitazione della corrente dinamica protegge i dispositivi sottoposti a collaudo di danni che possono essere anche di notevole entità riducendo la quantità di corrente di rottura (break down) massima consentita al progredire della sequenza di test. Le sequenza per il collaudo di affidabilità dei dispositivi, inoltre, possono richiedere ore, giorni, se non addirittura settimane per il loro completamento, generando un’immensa mole di dati. Il modulo Mod. ACS-2600-RTM utilizza tecniche di compressione che consentono al sistema di collaudo di acquisire i risultati delle misure più importanti pur continuando ad eseguire le misure durante questi periodi di tempo.


Supporto per unità di misura dell’impulso per il collaudo BTI ad elevata velocità
I possessori dell’analizzatore parametrico Mod. 4200-SCS di Keithley possono ora utilizzare tutte e sei le unità per la misura dell’impulso (Mod. 4225-PMU – Pulse Measure Unit) che il sistema è in grado di supportare per il collaudo BTI (Bias Temperature Instability) a elevatissima velocità. In precedenza ACS era in grado di supportare al massimo quattro unità contemporaneamente. La nuova release ACS V4.4 consente quindi di collaudare un numero maggiore di dispositive in parallelo, assicurando quindi un più elevato tasso di utilizzo del sistema e un’acquisizione più veloce dei dati BTI.


Supporto per le SMU di nuova generazione ottimizzate per il collaudo di dispositivi a elevate potenza
La release ACS V4.4 è in grado di supportare il SourceMeter per dispositivi elettronici di elevata potenza Mod. 2651A, il più recente membro della serie 2600A. L’ampio intervallo di corrente (fino a 50A a 40V) è una caratteristica molto importante per tutti coloro che sono coinvolti nello sviluppo e nella produzione di componenti di potenza a struttura verticale come IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistors) e DMOS (Double-diffused Metal-Oxide Semiconductor).


Nuovi progetti per tecnologie emergenti
ACS V4.4 include parecchi progetti di collaudo “chiavi in mano” ideati per il collaudo di affidabilità ad alta tensione, pompa di carica, (WLR) Wafer Level Reliability con sollecitazioni impulsive/in c.a. specificate e migrazione dello stress (affidabilità). Mentre molti utenti possono sfruttare questi progetti nella loro forma originale, per altri rappresentano un utile punto di partenza per lo sviluppo dei propri progetti di test in tempi più brevi.


L’ambiente di collaudo ACS: informazioni di background
ACS riunisce più strumenti utilizzati per la caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttore e le misure parametriche all’interno di un ambiente di collaudo unificato ottimizzato in termini di velocità, flessibilità e produttività per le operazioni di collaudo e analisi.
Un’interfaccia utente grafica (GUI) di immediata comprensione permette anche agli utilizzatori meno esperti di collaudare un componente a semiconduttore in pochissimo tempo, indipendentemente dal loro livello di competenza nella programmazione dei collaudi. Questa GUI semplifica la configurazione degli strumenti di test, l’impostazione dei parametri di misura, l’esecuzione di misure I-V e la visualizzazione dei risultati. Anche gli utenti “occasionali” possono effettuare tutte le operazioni necessarie – dalla creazione di un nuovo setup di collaudo alla caratterizzazione di nuovi dispositivi – in un tempo nettamente inferiore rispetto a quello richiesto dagli approcci tradizionali. Senza dimenticare che ACS fornisce tutti gli strumenti richiesti per la predisposizione (set up) del test, l’analisi dei dati e l’esportazione dei risultati – all’interno del medesimo ambiente. Con ACS, infine, risulta molto semplice integrare le più diffuse stazioni per il sondaggio dei wafer (wafer probe) automatiche o semiautomatiche nel setup di collaudo.
Maggiori informazioni su Keithley sono disponibili all’indirizzo: www.keithley.it.

Note sulla società
Con un’esperienza di oltre 60 anni nel campo della strumentazione di misura, Keithley Instruments è diventata un’azienda leader a livello mondiale nella realizzazione di sistemi e strumenti di collaudo elettrici. Gli utilizzatori sono scienziati e ingegneri operanti nel settore elettronico impegnati in attività di ricerca nel campo dei materiali avanzati, sviluppo e fabbricazione di dispositivi a semiconduttore e produzione di prodotti finali come dispositivi wireless portatili. Oltre a strumenti capaci di soddisfare le esigenze di misura più critiche, Keithley mette a disposizione una serie di servizi di consulenza qualificati che permettono ai clienti di migliorare la qualità dei loro prodotti e ridurre il costo dei collaudi. Nel 2010 Keithley Instruments si è unita a Tektronix ampliando con le proprie soluzioni il portafoglio di prodotti di misura e collaudo di quest'ultima.


* * *








Ultima modifica 2012-02-01