Da Keithley Instruments un nuovo Manuale Per Il Test Parametrico Parallelo
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Da Keithley Instruments un nuovo Manuale Per Il Test Parametrico Parallelo Una foto ad alta risoluzione è disponibile all’indirizzo: http://client.ggcomm.com/Keithley/Art/ParallelHandbook.jpg Cleveland, Ohio, Febbraio 2007 * * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha recentemente pubblicato un nuovo manuale relativo al test parametrico dei semiconduttori dal titolo: “Parallel Test Technology: the new paradigm for parametric testing”. Questa guida di 60 pagine offre una panoramica su una tecnica di test emergente, conosciuta come test parametrico parallelo. Si tratta di una strategia per il collaudo parametrico a livello di wafer che si basa sull’esecuzione contemporanea di test multipli su più strutture di test poste nella scribe line che permette ai costruttori di semiconduttori di ottimizzare il throughput e diminuire il costo dei collaudi. La guida è disponibile a titolo gratuito all’indirizzo: http://ggcomm.com/Keithley/PPTHandbook.html. Questi in sintesi gli argomenti trattati:
Nel nuovo manuale di Keithley Instruments è presente una sezione contenente codice di programmazione campione per un tipico setup di collaudo parallelo che utilizza la routine software pt_execute, oltre a un glossario dei termini più comunemente utilizzati nel settore del test parametrico parallelo. Per richiedere una copia gratuita del manuale “Parallel Test Technology” o per avere maggiori informazioni relative ai sistemi per la misura e il collaudo parametrico dei semiconduttori, ai prodotti per acquisizione dati o alle soluzioni T&M di Keithley Instruments è possibile visitare il sito Web all’indirizzo: http://ggcomm.com/Keithley/PPTHandbook.html o contattare direttamente la società all’indirizzo: www.keithley.com. Note sulla società * * * |
Ultima modifica 2007-02-06