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Da Keithley Instruments un nuovo Manuale Per Il Test Parametrico Parallelo

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Cleveland, Ohio, Febbraio 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha recentemente pubblicato un nuovo manuale relativo al test parametrico dei semiconduttori dal titolo: “Parallel Test Technology: the new paradigm for parametric testing”.

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Da Keithley Instruments un nuovo Manuale Per Il Test Parametrico Parallelo

Una foto ad alta risoluzione è disponibile all’indirizzo: http://client.ggcomm.com/Keithley/Art/ParallelHandbook.jpg


Cleveland, Ohio, Febbraio 2007 * * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha recentemente pubblicato un nuovo manuale relativo al test parametrico dei semiconduttori dal titolo: “Parallel Test Technology: the new paradigm for parametric testing”. Questa guida di 60 pagine offre una panoramica su una tecnica di test emergente, conosciuta come test parametrico parallelo. Si tratta di una strategia per il collaudo parametrico a livello di wafer che si basa sull’esecuzione contemporanea di test multipli su più strutture di test poste nella scribe line che permette ai costruttori di semiconduttori di ottimizzare il throughput e diminuire il costo dei collaudi. La guida è disponibile a titolo gratuito all’indirizzo: http://ggcomm.com/Keithley/PPTHandbook.html.

Questi in sintesi gli argomenti trattati:

  • Concetti base del test parametrico parallelo
  • Processo di implementazione del test parallelo
  • Applicazione del test parametrico parallelo ai setup hardware esistenti
  • Progetto di strutture di test per il collaudo parallelo

Nel nuovo manuale di Keithley Instruments è presente una sezione contenente codice di programmazione campione per un tipico setup di collaudo parallelo che utilizza la routine software pt_execute, oltre a un glossario dei termini più comunemente utilizzati nel settore del test parametrico parallelo.

Per richiedere una copia gratuita del manuale “Parallel Test Technology” o per avere maggiori informazioni relative ai sistemi per la misura e il collaudo parametrico dei semiconduttori, ai prodotti per acquisizione dati o alle soluzioni T&M di Keithley Instruments è possibile visitare il sito Web all’indirizzo: http://ggcomm.com/Keithley/PPTHandbook.html o contattare direttamente la società all’indirizzo: www.keithley.com.

Note sulla società
Con un’esperienza di 60 anni nel campo della strumentazione di misura, Keithely Instruments è diventata un’azienda leader a livello mondiale nella realizzazione di sistemi e strumenti di collaudo elettrici dalla continua alla radiofrequenza. I prodotti della società sono in grado di soddisfare le nuove esigenze di misura nei settori del collaudo di produzione, monitoraggio di processo, sviluppo di prodotti e ricerca. Gli utilizzatori sono scienziati e ingegneri operanti nel settore elettronico coinvolti in attività quali ricerca nel campo dei materiali avanzati, caratterizzazione di wafer e di dispositivi a semiconduttore e produzione di prodotti finali come assemblaggi di componenti elettronici o dispositivi wireless portatili. Oltre a strumenti decisamente all’avanguardia, Keithley mette a disposizione una serie di servizi di supporto qualificati che permettono ai clienti di migliorare qualità, throughput e rese dei loro prodotti.

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Ultima modifica 2007-02-06