I Nuovi Upgrade del Mod. 4200-SCS di Keithley Instruments Revedono Nuove Librerie Per il Collaudo di Celle Solari, l’Ampliamento del Range di Frequenza per le Misure C-V e il Supporto dello Chassis a Nove Slot
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I Nuovi Upgrade del Mod. 4200-SCS di Keithley Instruments Revedono Nuove Librerie Per il Collaudo di Celle Solari, l’Ampliamento del Range di Frequenza per le Misure C-V e il Supporto dello Chassis a Nove Slot
Cleveland, Ohio, 20 Marzo 2009 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società specializzata nello sviluppo di sistemi e strumenti per test elettici avanzati, ha annunciato di aver apporato numerose migliorie – a livello hardware, firmware e software – al proprio sistema per la caratterizzazione dei semiconduttori mod. 4200-SCS.
La release 7.2 dell’ambiente software KTEI (Keithley Test Environment Interactive) prevede nove nuove librerie per test di celle solari, l’ampliamento del range di frequenza per le misure C-V (Capacitance-Voltage) e il supporto per il nuovo chassis a nove slot del mod. 4200-SCS. Le nuove librerie di test incluse nella versione 7.2 di KTEI ampliano le potenzialità del mod. 4200-SCS per quanto concerne i collaudi di resistività, C-V e I-V delle celle solari, che stanno suscitando in interesse sempre maggiore anche in considerazione del azioni intraprese dai vari Governi nazionali a favore della diffusione delle energie alternative. In questo aggiornamento software è previsto anche il supporto della metodologia DLCP (Drive-Level Capacitance Profiling), una nuova tecnica per il collaudo di celle solari di difficile esecuzione con le precedenti soluzioni di test. Grazie a questa tecnica è possibile ottenere informazioni circa la densità di difetti delle celle solari a film sottile. Le schede mod. 4200CVU (Capacitance-Voltage Unit) esistenti, introdotte a partire dal mese di novembre del 2007, possono essere rapidamente modificate in modo da supportare questa metodologia di test. L’intervallo di frequenza delle schede CVU è stato ampliato a 1 kHz a 10 MHz (da 10 kHz a 10 MHz) in modo da poter gestire il collaudo DLCP. L’estensione dell’intervallo di frequenza permette di ampliare i campi di applicazione del sistema, rendendo possibile il collaudo di LCD a pannello piatto e di semiconduttori organici quali ad esempio gli OLED (Organic Light-Emitting Diodes). La costante crescita delle applicazioni di caratterizzazione C-V, impulsive e I-V si traduce nel fatto che gli utilizzatori del mod. 4200-SCS per i quali le risorse e la flessibilità di collaudo sono elementi di fondamentale importanza si trovano di fronte a mainframe particolarmente “affollati”. Al fine di soddisfare queste esigenza la release 7.2 di Keithley Instruments supporta lo chassis a nove slot. In precedenza il mod. 4200-SCS disponeva di otto slot per ospitare un numero sempre crescente di SMU (Source-Measure Unit), schede oscilloscopio e per la generazione degli impulsi e schede CVU. I sistemi mod. 4200-SCS esistenti possono essere aggiornati per assicurare il supporto di nove slot, mentre tutti i nuovi mainframe avranno questo numero di slot. Oltre alla nuova release V7.2, Keithley Instruments ha introdotto un nuovo kit di cavi triassiali ad alte prestazioni per la connessione tra il mod. 4200-SCS a un prober: esso è stato esplicitamente progettato per semplificare il processo di commutazione tra i test I-V DC (in continua), C-V e impulsivi. Il nuovo kit di cavi elimina sia il ricorso al ricablaggio sia gli errori di misura che sono spesso il risultato di errori di cablaggio. Il kit di cavi viene fornito in due versioni, una ottimizzata per i prober Cascade Microtech e l’altra per i prober SUSS MicroTec. Miglioramenti continui per garantire la produttivitàIl mod. 4200-SCS di Keithley Instruments può sostituire una vasta gamma di strumenti per il collaudo elettrico con una singola soluzione di caratterizzazione caratterizzata da un livello di integrazione molto spinto ed è ideale per una pluralità di applicazioni tra cui sviluppo delle tecnologie a semiconduttore, sviluppo di processo e ricerche di nuovi materiali che sono condotte nel laboratori che si occupano di affidabilità, nei consorzi e nei laboratori coinvolti nelle ricerche nel campo dei materiali e dei dispositivi così come in ogni altro laboratori che necessiti di uno strumento da banco per effettuare test impulsivi o in continua. Note sulla società * * *
Nomi di prodotti e aziende elencate sono marchi o nomi di marchi delle rispettive società.
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Ultima modifica 2009-03-24

