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I Nuovi Upgrade del Mod. 4200-SCS di Keithley Instruments Revedono Nuove Librerie Per il Collaudo di Celle Solari, l’Ampliamento del Range di Frequenza per le Misure C-V e il Supporto dello Chassis a Nove Slot

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Cleveland, Ohio, 20 Marzo 2009 * * * Keithley Instruments Inc.

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I Nuovi Upgrade del Mod. 4200-SCS di Keithley Instruments Revedono Nuove Librerie Per il Collaudo di Celle Solari, l’Ampliamento del Range di Frequenza per le Misure C-V e il Supporto dello Chassis a Nove Slot




Un breve video che illustra le caratteristiche di questo nuovo prodotto è disponibile: http://www.keithley.com/events/proddemos/ktei


Cleveland, Ohio, 20 Marzo 2009   * * *   Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società specializzata nello sviluppo di sistemi e strumenti per test elettici avanzati, ha annunciato di aver apporato numerose migliorie – a livello hardware, firmware e software – al proprio sistema per la caratterizzazione dei semiconduttori mod. 4200-SCS.
La release 7.2 dell’ambiente software KTEI (Keithley Test Environment Interactive) prevede nove nuove librerie per test di celle solari, l’ampliamento del range di frequenza per le misure C-V (Capacitance-Voltage) e il supporto per il nuovo chassis a nove slot del mod. 4200-SCS.
Le nuove librerie di test incluse nella versione 7.2 di KTEI ampliano le potenzialità del mod. 4200-SCS per quanto concerne i collaudi di resistività, C-V e I-V delle celle solari, che stanno suscitando in interesse sempre maggiore anche in considerazione del azioni intraprese dai vari Governi nazionali a favore della diffusione delle energie alternative.
In questo aggiornamento software è previsto anche il supporto della metodologia DLCP (Drive-Level Capacitance Profiling), una nuova tecnica per il collaudo di celle solari di difficile esecuzione con le precedenti soluzioni di test. Grazie a questa tecnica è possibile ottenere informazioni circa la densità di difetti delle celle solari a film sottile. Le schede mod. 4200CVU (Capacitance-Voltage Unit) esistenti, introdotte a partire dal mese di novembre del 2007, possono essere rapidamente modificate in modo da supportare questa metodologia di test.
L’intervallo di frequenza delle schede CVU è stato ampliato a 1 kHz a 10 MHz (da 10 kHz a 10 MHz) in modo da poter gestire il collaudo DLCP. L’estensione dell’intervallo di frequenza permette di ampliare i campi di applicazione del sistema, rendendo possibile il collaudo di LCD a pannello piatto e di semiconduttori organici quali ad esempio gli OLED (Organic Light-Emitting Diodes).
La costante crescita delle applicazioni di caratterizzazione C-V, impulsive e I-V si traduce nel fatto che gli utilizzatori del mod. 4200-SCS per i quali le risorse e la flessibilità di collaudo sono elementi di fondamentale importanza si trovano di fronte a mainframe particolarmente “affollati”. Al fine di soddisfare queste esigenza la release 7.2 di Keithley Instruments supporta lo chassis a nove slot. In precedenza il mod. 4200-SCS disponeva di otto slot per ospitare un numero sempre crescente di SMU (Source-Measure Unit), schede oscilloscopio e per la generazione degli impulsi e schede CVU. I sistemi mod. 4200-SCS esistenti possono essere aggiornati per assicurare il supporto di nove slot, mentre tutti i nuovi mainframe avranno questo numero di slot.
Oltre alla nuova release V7.2, Keithley Instruments ha introdotto un nuovo kit di cavi triassiali ad alte prestazioni per la connessione tra il mod. 4200-SCS a un prober: esso è stato esplicitamente progettato per semplificare il processo di commutazione tra i test I-V DC (in continua), C-V e impulsivi.
Il nuovo kit di cavi elimina sia il ricorso al ricablaggio sia gli errori di misura che sono spesso il risultato di errori di cablaggio. Il kit di cavi viene fornito in due versioni, una ottimizzata per i prober Cascade Microtech e l’altra per i prober SUSS MicroTec.

Miglioramenti continui per garantire la produttività

Il mod. 4200-SCS di Keithley Instruments può sostituire una vasta gamma di strumenti per il collaudo elettrico con una singola soluzione di caratterizzazione caratterizzata da un livello di integrazione molto spinto ed è ideale per una pluralità di applicazioni tra cui sviluppo delle tecnologie a semiconduttore, sviluppo di processo e ricerche di nuovi materiali che sono condotte nel laboratori che si occupano di affidabilità, nei consorzi e nei laboratori coinvolti nelle ricerche nel campo dei materiali e dei dispositivi così come in ogni altro laboratori che necessiti di uno strumento da banco per effettuare test impulsivi o in continua.
Fin dalla sua introduzione Keithley Instruments ha continuamente apportato migliorie sia hardware sia software al mod. 4200-SCS, dando così la possibilità di aggiornare questo sistema in maniera estremamente economica: in questo modo, non risulta più necessario acquistare, a distanza di pochi anni, un nuovo analizzatore parametrico perché il precedente è divenuto obsoleto. I sistemi possono essere aggiornati in maniera economica per soddisfare le nuove richieste degli utilizzatori: in questo modo l’investimento fatto nel mod. 4200-SCS risulta essere di gran lungo più redditizio rispetto a quello effettuato in altre soluzioni di test presenti sul mercato.
Keithley Instruments è un’azienda di primo piano nel settore delle soluzioni per il test parametrico e la caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttore capaci di offrire ai clienti di tutto il mondo una gamma completa di soluzioni flessibili per analisi e misure I-V, C-V e I-V impulsive. La gamma di prodotti spazia dagli strumenti da banco a sistemi “chiavi in mano” utilizzati nelle più diverse applicazioni quali analisi dei materiali, caratterizzazione dei dispositivi, affidabilità a livello di wafer e monitoraggio del controllo di processo. Keithley Instruments collabora attivamente con i propri clienti operanti nel settore dei semiconduttori attraverso la propria rete di centri di supporto sul campo e di ingegneri di applicazione con uno specifico know how nella tecnologia dei semiconduttori.
La versione 7.2 di KTEI è disponibile a titolo gratuito per gli utilizzatori del mod. 4200-SCS. La calibrazione del mod. 4210-CVU aggiornato e l’aggiornamento dei sistemi mod. 4200-SCS esistenti per il supporto di nove strumenti sono invece a pagamento.
Ulteriori informazioni sulla release 7.2 di KTEI o su ogni altra soluzione per il collaudo dei semiconduttori di Keithley Instruments sono disponibili all’indirizzo:
www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=4200-SCS oppure sul sito Web della società all’indirizzo: www.keithely.com.

Note sulla società
Con un’esperienza di 60 anni nel campo della strumentazione di misura, Keithley Instruments è diventata un’azienda leader a livello mondiale nella realizzazione di sistemi e strumenti di collaudo elettrici dalla continua alla radiofrequenza. I prodotti della società sono in grado di soddisfare le nuove esigenze di misura nei settori del collaudo di produzione, monitoraggio di processo, sviluppo di prodotti e ricerca. Gli utilizzatori sono scienziati e ingegneri operanti nel settore elettronico coinvolti in attività quali ricerca nel campo dei materiali avanzati, caratterizzazione di wafer e di dispositivi a semiconduttore e produzione di prodotti finali come assemblaggi di componenti elettronici o dispositivi wireless portatili. Oltre a strumenti decisamente all’avanguardia, Keithley mette a disposizione una serie di servizi di supporto qualificati che permettono ai clienti di migliorare qualità, throughput e rese dei loro prodotti. www.keithley.com.



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Nomi di prodotti e aziende elencate sono marchi o nomi di marchi delle rispettive società.

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Ultima modifica 2009-03-24