Keithley Instruments Introduce Funzionalita’ Avanzate per le Misure Impulsive E I-V Impulsive Utilizzate nel Test di Semiconduttori Avanzati

Cleveland, Ohio, Aprile 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato l’introduzione di significative migliorie a livello sia hardware che software per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori mod. 4200-SCS (SCS – Semiconductor Characterization System) che rappresentano un significativo passo in avanti nel campo dei test di tipo impulsivo. Il sistema mette a disposizione funzionalità di misure impulsive e in c.c. oltre a package applicativi completi che permettono la realizzazione di soluzioni “chiavi in mano”. Una scheda avanzata per la generazione degli impulsi e una nuova scheda oscilloscopio offrono nuove funzionalità ai ricercatori impegnati nelle attività di ricerca e produzione di semiconduttori avanzati. Le significative migliorie apportate al package mod. 4200-PIV e la disponibilità di due nuove soluzioni applicative permettono di ampliare le potenzialità di utilizzo del mod. 4200-SCS in aree quali il collaudo di memorie flash, di dispositivi RF a elevata potenza e il testing impulsivo utilizzato nel campo dei semiconduttori avanzati. Ulteriori informazioni sono disponibili all’indirizzo: www.keithley.com/pr/069.

Hardware avanzato per il collaudo
La nuova soluzione proposta da Keithley si distingue per le significative migliorie apportate a livello hardware. La nuova scheda per la generazione degli impulsi Mod. 4205-PG2 è caratterizzata da un gran numero di nuove funzionalità tra cui la modalità Segment ARB™ (in attesa di brevetto) che permette agli utenti di generare in modo semplice forme d’onda complesse tramite semplici segmenti di linea. Questa funzionalità, che permette di realizzare forme d’onda più complesse rispetto a quelle che si possono ottenere mediante la generazione degli impulsi base, è di basilare importanza per il collaudo di memorie flash, che richiedono modelli di forme d’onda complessi per la caratterizzazione e il test di durata delle celle di memoria. Il mod. 4205-PG2 può anche funzionare in modalità ARB (generatore di forme d’onda arbitrarie) e integra un relè di uscita a elevata durata che assicura una vita operativa praticamente illimitata. Semplice da controllare, il relè elimina il ricorso a relè esterni impiegati per il collaudo delle memorie flash, contribuendo a ridurre significativamente i tempi del test di durata.

Grazie alla presenza di un nuovo alimentatore è possibile ampliare le possibili configurazioni del mod. 4200-SCS. Un sistema di questo tipo può ora ospitare fino a quattro schede per la generazione degli impulsi separate per chassis. Poiché ogni mod. 4205-PG2 dispone di due canali, un sistema di test mod. 4200-SCS può avere un massimo di otto canali per la generazione di impulsi per chassis. Il mod. 4205-PG2 dispone di un segnale di ingresso di trigger (trigger-in) per una sorgente di trigger esterna, in modo da consentire la sincronizzazione di più schede per la generazione degli impulsi presenti in uno chassis in un intervallo di 10 ns l’una dall’altra.

Soluzioni applicative per affrontare le più complesse sfide tecnologiche
Le nuove soluzioni applicative di Keithley Instruments sfruttano le potenzialità offerte dalla scheda per la generazione degli impulsi mod. 4205-PG2 e dal nuovo software applicativo. Il package mod. 4200-PIV-Q è stato espressamente concepito per l’esecuzione del collaudo I-V impulsivo e l’analisi dei segnali su dispositivi RF e FET a elevata potenza realizzati con materiali dei gruppi III-V e in tecnologia LDMOS. Flessibile e di semplice uso, questo package è in grado di generare impulsi fino a ± 38V, 800 mA e 30 W, e si propone la soluzione ideale per le applicazioni a elevata potenza. Una caratteristica di rilievo del mod. 4200-PIV-Q è il collaudo del punto di riposo (Q-point) con ampiezze degli impulsi da 500 ns alla continua.

Un’altra nuova soluzione applicativa è rappresentata dal package mod. 4200-FLASH, una soluzione avanzata per il collaudo di memorie flash. Essa è in grado di eseguire i tre più importanti tipi di collaudo previsti per questo tipo di memorie: caratterizzazione, collaudo di durata e test dei disturbi. Questo package gestisce automaticamente la commutazione tra il collaudo impulsivo e in continua senza ricorrere a uno switch esterno. Il relè di uscita a elevata durata integrato permette di accelerare il collaudo di durata eliminando il ricorso a un relè a stato solido esterno richiesto da molte altre apparecchiature per il collaudi di memorie flash, a tutto vantaggio dell’efficienza e della semplicità d’uso. Oltre a ciò, l’integrazione di programmi e codice specialistici nel package mod. 4200-FLASH semplifica le fasi di setup e di avviamento del collaudo delle memorie. Un altro package disponibile è il mod. 4200-PIV-A che presenta significative migliorie rispetto al package mod. 4200-PIV, destinato alla caratterizzazione di dispositivi CMOS avanzati. Tra i miglioramenti apportati si possono segnalare una migliore risoluzione per correnti di intensità molto bassa, fino a 100 nA, un’interfaccia di uso più semplice con test in continua e impulsivi combinati e la presenza di interfacce grafiche di immediata comprensione.

Un software sempre migliore
Anche la nuova versione (V6.2) di KTEI (Keithley Test Environment Interactive) si distingue per la presenza di numerose migliorie. Per esempio è stato migliorato il controllo del mod. 4200-SCS mediante un personal computer esterno grazie al collegamento mediante rete Ethernet, alle chiamate remote per le schede oscilloscopio e di generazione degli impulsi e alla possibilità di far girare in modo remoto i collaudi on board negli User Test Modules (UTM). Una nuova funzionalità permette inoltre agli utenti di interagire con i singoli moduli UTM attraverso un’interfaccia grafica (GUI) di semplice uso per parecchie applicazioni comuni, tra cui i test PIV e il controllo della matrice di commutazione. KTEI V6.2 sarà anche disponibile come package software autonomo da installare sul personal computer dell’utilizzatore per la generazione di test off line e l’analisi dei dati successiva al collaudo.

Gli utilizzatori esistenti possono eseguire l’aggiornamento relativo a queste nuove soluzioni applicative, in modo da garantire la protezione dell’investimento, contenere le spese per le apparecchiature e, in definitiva, ridurre il costo complessivo del test.

La scheda per la generazione degli impulsi mod. 4205-PG2, disponibile come add-on per i nuovi sistemi o come aggiornamento per quelli già installati. Per ulteriori informazioni sui più recenti aggiornamenti hardware e software per il mod. 4200-SCS o sulle altre soluzioni per il collaudo di semiconduttori di Keithley Instrument è possibile visitare il sito all’indirizzo: http://www.keithley.com/pr/069 oppure contattare direttamente la società www.keithley.com.

Note sulla società
Con un’esperienza di 60 anni nel campo della strumentazione di misura, Keithely Instruments è diventata un’azienda leader a livello mondiale nella realizzazione di sistemi e strumenti di collaudo elettrici dalla continua alla radiofrequenza. I prodotti della società sono in grado di soddisfare le nuove esigenze di misura nei settori del collaudo di produzione, monitoraggio di processo, sviluppo di prodotti e ricerca. Gli utilizzatori sono scienziati e ingegneri operanti nel settore elettronico coinvolti in attività quali ricerca nel campo dei materiali avanzati, caratterizzazione di wafer e di dispositivi a semiconduttore e produzione di prodotti finali come assemblaggi di componenti elettronici o dispositivi wireless portatili. Oltre a strumenti decisamente all’avanguardia, Keithley mette a disposizione una serie di servizi di supporto qualificati che permettono ai clienti di migliorare qualità, throughput e rese dei loro prodotti.

* * *