Keithley Instruments introduce Sistemi di Test Integrati per semplificare e accelerare il Collaudo dei Semiconduttori

Cleveland, Ohio, Aprile 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha reso noto l’introduzione dei sistemi di test integrati ACS (Automated Characterization Suite) per la caratterizzazione dei semiconduttori a livello di dispositivo, wafer e cassette. Con ACS Keithley ha creato una varietà di sistemi di test altamente configurabili e flessibili per la caratterizzazione dei semiconduttori che mettono a disposizioni funzionalità di misura uniche insieme a un software orientato all’automazione particolarmente avanzato. I sistemi ACS assicurano rapidità di misura e un elevato grado di flessibilità e utilizzano una suite software uniforme per soddisfare esigenze applicative specifiche. Ulteriori informazioni su questi sistemi di test sono reperibili all’indirizzo: http://www.keithley.com/pr/070.

I sistemi di test integrati ACS mettono a disposizione una molteplicità di soluzioni hardware di test e funzionalità di misura uniche quali:

• Il sistema per la caratterizzazione dei semiconduttori mod. 4200-SCS dotato di funzioni di misura e di erogazione di correnti e tensioni e di package specializzati per il collaudo impulsivo come il package mod. 4200-PIV adatto al test di materiali per semiconduttori avanzati
• Gli strumenti della serie 2600 SourceMeter® che grazie a caratteristiche quali TSP-Link™ e al processore Test Script Processor (TSP)™ sono in grado di eseguire test I-V con numero di canali scalabile, misure parallele veloci e sequenze di test complesse per applicazioni quali NTBI “al volo” o caratterizzazione di componenti direttamente sul wafer
• Gli strumenti della serie 2400 SourceMeter® in grado di erogare correnti e tensioni di valore elevato adatte in applicazioni quali MOSFET a elevata potenza e circuiti di pilotaggio per display
• Sistemi di commutazione, C-Meter e generatori di impulsi che rappresentano l’ideale complemento dei sistemi di test integrati ACS

I sistemi di test integrati ACS sono disponibili in configurazioni da banco o in configurazioni da rack “full height” integrate in un sistema di fabbrica.

Affrontare le sfide del test

Tutti coloro coinvolti nel collaudo dei semiconduttori si trovano ad affrontare numerose problematiche. Da un lato, sono necessarie misure specifiche e l’adozione di nuove tecniche per effettuare il collaudo di dispositivi CMOS realizzati con tecnologie sempre più ridotte (scaled CMOS), LDMOS e componenti di memoria avanzati. Dall’altro, queste nuove tecnologie richiedono l’esecuzione di un maggior numero di collaudi e l’acquisizione di un maggior numero di dati in tempi brevi e con un numero più limitato di risorse. Finora, gli ingegneri di collaudo hanno utilizzato strumenti che assicurano flessibilità e capacità di misura uniche ma richiedono la disponibilità di software (sviluppato internamente o da terze pari) che contribuisce ad aumentare sia il time to market sia il costo complessivo del test.

I sistemi di test integrati ACS di Keithley sono in grado di soddisfare queste esigenze sfruttando la flessibilità e le capacità di misura specifiche degli strumenti fornendo nel contempo il software richiesto per assicurare i livelli di versatilità e di automazione richiesti. Questi nuovi sistemi di Keithely rappresentano la soluzione ideale per la caratterizzazione parametrica dei semiconduttori nelle applicazioni di R&D, sviluppo tecnologico (TD), controllo di qualità/affidabilità (QRA) e test di produzione su piccola scala.

L’automazione a livello di wafer o di cassette consente di effettuare più test non presidiati e di raccogliere un numero maggiore di campioni di dati statistici per la modellazione e la qualificazione del processo e una migliore utilizzazione dei tool. A livello di wafer, i sistemi di test integrati ACS sono corredati da una utility per la descrizione dei wafer e una mappa dei wafer. Gli utilizzatori possono realizzare con semplicità file per la descrizione dei wafer con pianificazioni di collaudo integrati. Le mappe dei wafer codificati a colori sono aggiornate in tempo reale durante l’esecuzione del test per mostrare le misure del test pass/fail, assicurando la completa visibilità dei risultati di test e garantendo la massima produttività dei risultati stessi.

Un’altra innovazione è rappresentata dal controllore del prober. Gli utenti possono così controllare il movimento del wafer utilizzando il software dei sistemi ACS nel corso dello sviluppo del test per la validazione del setup del collaudo sulle strutture effettive e durante la disposizione del lotto per dirigersi verso un’area del wafer su cui sono stati riscontrati problemi ed eseguire il collaudo in maniera manuale. Una serie completa di driver assicura la massima semplicità di integrazione con un’ampia gamma di prober semiautomatici o completamente automatici.

I sistemi ACS sono configurati e integrati con le risorse messe a disposizione da Keithely per lo sviluppo di applicazioni nel campo dei test di semiconduttori e la customizzazione.

Esse includono routine di test come macro, script e GUI custom, oltre a soluzioni di interconnessione – comprese cavi, sistemi di commutazione, adattatori delle schede utilizzate per il sondaggio – e a servizi di installazione, addestramento e sviluppo di applicazioni.

I prezzi dei sistemi di test integrati ACS, già da ora disponibili, variano in funzione della particolare configurazione e delle opzioni di personalizzazione.

Per ulteriori informazioni su questi sistemi o su qualsiasi altra soluzione per il collaudo di semiconduttori è possibile visitare il sito all’indirizzo www.keithely.com/pr/070 o contattare direttamente la società all’indirizzo: www.keithley.com.

Note sulla società

Con un’esperienza di 60 anni nel campo della strumentazione di misura, Keithely Instruments è diventata un’azienda leader a livello mondiale nella realizzazione di sistemi e strumenti di collaudo elettrici dalla continua alla radiofrequenza. I prodotti della società sono in grado di soddisfare le nuove esigenze di misura nei settori del collaudo di produzione, monitoraggio di processo, sviluppo di prodotti e ricerca. Gli utilizzatori sono scienziati e ingegneri operanti nel settore elettronico coinvolti in attività quali ricerca nel campo dei materiali avanzati, caratterizzazione di wafer e di dispositivi a semiconduttore e produzione di prodotti finali come assemblaggi di componenti elettronici o dispositivi wireless portatili. Oltre a strumenti decisamente all’avanguardia, Keithley mette a disposizione una serie di servizi di supporto qualificati che permettono ai clienti di migliorare qualità, throughput e rese dei loro prodotti.

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