Cleveland, Ohio, Agosto 2004 - Keithley Instruments
Inc. (NYSE: KEY), azienda leader nello sviluppo di soluzioni atte a soddisfare
esigenze di misura sempre più complesse, ha annunciato l'introduzione di un
nuovo sistema di test parametrico "pronto all'uso" che non ha rivali in termini
di costo per pin e di rapporto prezzo/prestazioni. Il sistema di test
parametrico mod. S470 è ottimizzato per il test in produzione di wafer da 200 mm
sui quali vengono realizzati dispositivi CMOS con processi da 130 nm (e
inferiori).
Elevato throughput, accuratezza e flessibilità
Il
mod. S470 è in grado di eseguire in maniera rapida e precisa una vasta gamma di
misure I-V e C-V su integrati CMOS, bipolari e all'arseniuro di gallio (GaAs),
compresi IC per applicazioni automotive e telecom, LCD e molti altri. L'estrema
facilità d'uso del sistema permette di semplificare e accelerare la
programmazione dei test e tutte le operazioni che vengono svolte
quotidianamente.
Design collaudato
Il mod. S470 è stato realizzato
sfruttando il know how acquisito nello sviluppo dei tester basati su UNIX della
famiglia S400 - apparecchiature affidabili e collaudate presenti in centinaia di
esemplari nelle fabbriche di tutto il mondo - e può contare sulla disponibilità
di infrastrutture di ricambio e di supporto qualificato a livello mondiale. Il
software applicativo fornito a corredo è la più recente versione di Keithley
Test Environment (KTE release 5.1), dotato di un programma di controllo (test
executive) e di un'interfaccia operatore comuni agli altri modelli di tester
delle serie S400 e S600. Ciò, oltre a semplificare il trasferimento dei
programmi di test, permette di effettuare regolari aggiornamenti del sistema,
così da ottimizzare il riutilizzo delle componenti hardware e software. Per il
mod. S470 la garanzia prevista è di un anno. Tra le varie opzioni disponibili si
possono annoverare l'opzione RF fino a 40 GHz, il software per il test
adattativo che automatizza la diagnostica di processo di primo livello e
l'interfaccia SECS/GEM per semplificare l'integrazione del tester in un contesto
di automazione di fabbrica.
Considerazioni applicative
I tester parametrici
della serie S400 di Keithley Instruments sono stati ampiamente utilizzati
dall'industria dei semiconduttori a partire dagli anni '80; Keithley si è
costantemente impegnata nella messa a punto di aggiornamenti che permettessero
l'adeguamento ai progressi tecnologici e ai requisiti dei clienti in modo da
assicurare il riutilizzo delle apparecchiature il più a lungo possibile. Con una
risoluzione in corrente migliore di 10 fA, il tester mod. S470 rappresenta una
scelta economica per il collaudo dei più diffusi tipi di circuiti integrati che
vengono attualmente prodotti in volumi. Esso è in grado di assicurare misure
accurate e ripetibili, prive di errori e garantire un elevato throughput.
KTE release 5.1 è il software più semplice da utilizzare nelle
applicazioni di test parametrico che integra strumenti potenti ma non complessi
per la modifica e lo sviluppo del codice di test, numerose funzionalità di
misura e strumenti avanzati per l'analisi dei dati che dan vita a una soluzione
completa per il test parametrico.
Caratteristiche del prodotto
Il sistema mod. S470 è
disponibile in configurazione a 24 pin e comprende i cablaggi e gli adattatori
per le sonde, oltre alle connessioni Kelvin e ai circuiti di guardia (guarding)
agli aghi delle sonde. Il sistema base risulta composto da quattro unità SMU
(Source-Measure Unit) I-V in c.c., un misuratore di conduttanza/capacità da 100
kHz, un picoamperometro e un'unità di riferimento di sistema dotata di software
di diagnostica e di calibrazione. Il picoamperometro è indirizzabile su tutti i
pin e fornisce una risoluzione di misura migliore di 10 fA. Le schede di
commutazione a matrici d'aria a bassa corrente ed elevata velocità sono simili
alle schede delle famiglie 707A/7174A di Keithley e garantiscono tempi di
assestamento (settling time) ridotti. Di conseguenza diventa possibile
effettuare misure con elevata integrità alle velocità richiesta dal processo
produttivo. Il software KTE release 5.1 mette a disposizione una piattaforma
affidabile per lo sviluppo del test, la scelta dei parametri di collaudo (test
recipe) e l'esecuzione del test. Sono altresì disponibili librerie di misura per
componenti standard CMOS e BiCMOS, mentre è possibile generare nuovi algoritmi
grazie alla presenza di un compilatore per il linguaggio C. Come accade per i
più recenti tester della serie S400, il software KTE gira su un controllore Sun
che opera in ambiente Unix Solaris. Tutta la documentazione relativa al software
di sistema è disponibile su CD-ROM: inoltre è prevista l'installazione on site e
la garanzia di un anno. Le opzioni del sistema comprendono:
- Fino a 4 unità SMU (Source-measure units) I-V in c.c.
- Possibilità di espansione a 36 o 48 pin
- Opzione RF per misure dei parametri s non estrapolati a 40 GHz
- Misuratore di capacità ad alta velocità (1 MHz) o multifrequenza per
eseguire misure su dielettrici avanzati
- Generatore di tensione a impulsi a media corrente per il collaudo di
dispositivi a pompa di carica e la misura di correnti fino a 2 A
- Microvoltmetro per monitorare processi in rame
- Generatore di impulsi (fino a un massimo di due, ognuno a singolo o doppio
canale)
- Contatore di frequenza o analizzatore di spettro per misure dell'oscillatore
d'anello
- Opzione KRM (Keithley Recipe Manager) per automatizzare il controllo della
versione e trasferire in produzione solo le sequenze di test approvate con
tracciabilità delle prescrizioni (recipe) conforme alle normative ISO-9001
- Test adattativo per automatizzare la diagnostica di processo di primo
livello
E' possibile consultare la società per avere una quotazione
del sistema in relazioni alle opzioni scelte e per avere informazioni circa la
disponibilità di aggiornamenti per i sistemi della serie S400. Ulteriori
informazioni sul sistema di test parametrico mod. S470 o su qualsiasi altra
soluzione per il collaudo di semiconduttori e possibile visitare il sito della
società all'indirizzo: www.keithley.com
