Accordo di Sviluppo Congiunto tra Keithley Instruments e CEA Leti per Favorire l’Innovazione nei Settori delle Nanotecnologie e dei Materiali Semiconduttori

Cleveland, Ohio, Giulio, 2007 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato di aver stipulato un accordo di collaborazione congiunto (JDP – Joint Development Partnership) relativo alle tecnologie di collaudo di materiali per semiconduttori con CEA Leti, uno dei più avanzati laboratori per lo sviluppo dei semiconduttori. In base a questa intesa Keithley Instruments e CEA Leti coopereranno per individuare metodologie idonee per la caratterizzazione di dispositivi e semiconduttori avanzati che supportano segnali in continua (DC), ad alta frequenza ed RF su strutture micro e nanometriche. CEA Leti utilizzerà i sistemi per il test dei semiconduttori in grado di effettuare misure RF (RF-enabled) nel corso dei suoi progetti di ricerca al fine di migliorare e ampliare la comprensione relative alle prestazioni dei dispositivi a semiconduttore delle prossime generazioni.

CEA Leti, un laboratorio CEA (la Commissione per l'energia atomica francese) con sede in Francia, è uno dei principali centri di ricerca applicata europea operante nel settore dell'elettronica. La sua attività è concentrata quasi esclusivamente (in misura superiore all'85%) sulla ricerca che viene finalizzata in cooperazione con partner esterni.

CEA Leti occupa circa un migliaio di persone, collabora con circa 200 partner e gestisce un portafoglio formato da 1.300 invenzioni coperte da brevetto. Keithley Instruments, dal canto suo, ha conquistato una posizione di leadership nel settore delle misure in RF per semiconduttori fin dall'introduzione del sistema di test parametrico DC/RF mod. 680, il primo tester parametrico in grado di effettuare il test RF in produzione a livello di wafer. Questo sistema permette di eseguire il collaudo parallelo, garantire un'elevata sensibilità in continua, assicurare una risoluzione a livello di femtoampere nonché effettuare misure dei parametri-s in RF fino a una frequenza di 40 GHz all'interno di un singolo strumento. Si tratta della soluzione in grado di garantire il minor costo di possesso e il più elevato throughput per misure che riguardano dispositivi realizzati con processi da 65 nm e inferiori.

"Nel momento in cui l' evoluzione tecnologica in atto nel mondo dei semiconduttori porta i livelli dei segnali nel dominio della radiofrequenza e la miniaturizzazione dei dispositivi in quello delle tecnologie nanometriche – ha detto Mark Hoersten, vice president per le attività di business management di Keithley Instruments – la tecnologia di misura non solo deve mantenere il passo con questa evoluzione, ma anche consentire ai ricercatori di realizzare e collaudare questi dispositivi". "La partnership con CEA Leti – ha proseguito –rappresenta un'occasione unica per sviluppare nuove tecnologie di misura proprio nel momento in cui i nostri clienti stanno sperimentando soluzioni che prevedono la convergenza di parecchie discipline – semiconduttori, RF/wireless e nanotecnologie".

"La capacità di effettuare misure elettriche di elevata qualità è di fondamentale importanza per il successo di iniziative quali "More Moore" e "More Than Moore" – ha commentato Olivier Demolliens, responsabile della divisione nanotecnologie di CEA Leti. "I nostri esperti – ha proseguito – devono poter disporre di dati che siano i più precisi possibili per comprendere, modellare e apportare migliorie ai nostri dispositivi. La collaborazione con Keithley Instruments permette di sviluppare e migliorare la tecnologia di misura al fine di soddisfare le esigenze degli esperti che opera nei settori della ricerca e industriale. Per CEA Leti la cooperazione con un'azienda specializzata nella realizzazione di strumenti di misura di elevato livello qualitativo rappresenta un'opportunità estremamente interessante".

L'accordo tra Keithley Instruments e CEA Leti giunge nel momento in cui quest'ultima ha rafforzato i propri investimenti nel campo delle nanotecnologie con la recente apertura del nuovo centro per l'innovazione denominato MINATEC®. CEA Leti è uno dei principali promotori di MINATEC®, il più importante centro di eccellenza europeo operante nei comparti della microelettronica e delle nanotecnologie, in grado di ospitare, nella sede di Grenoble, oltre 4.000 tra ricercatori, esperti industriali e personale didattico. MINATEC® concentrerà l'attività di tutto questo personale operante nel settore della microelettronica e delle nanotecnologie in un unico campus e favorirà lo sviluppo di iniziative congiunte al fine di accelerare l'innovazione e la valorizzazione delle scoperte a livello industriale.

Oltre alla sua architettura ottimizzata per il test parametrico, il sistema per la caratterizzazione dei semiconduttori mod. 4200-SCS gioca un ruolo di primo piano nella caratterizzazione dei dispositivi, in quanto risulta particolarmente utile per il testing impulsivo di dispositivi miniaturizzati e quindi particolarmente fragili. Il mod. 4200-SCS è un sistema che abbina funzionalità di misura in continua e impulsive con package applicativi completi, in modo da permettere la realizzazione di sistemi "chiavi in mano". Il package PIV (Pulse I-V) del mod. 4200-SCS fornisce gli strumenti, le connessioni e il software necessari per eseguire misure di impulsi brevissimi su transistor estremamente sottili mentre essi si trovano ancora sul wafer.

Ulteriori informazioni sulla vasta gamma di soluzioni per il test di semiconduttori di Keithley Instruments sono disponibili all'indirizzo: www.keithley.com/products/semiconductor.

Note sulla società

Con un'esperienza di 60 anni nel campo della strumentazione di misura, Keithely Instruments è diventata un'azienda leader a livello mondiale nella realizzazione di sistemi e strumenti di collaudo elettrici dalla continua alla radiofrequenza. I prodotti della società sono in grado di soddisfare le nuove esigenze di misura nei settori del collaudo di produzione, monitoraggio di processo, sviluppo di prodotti e ricerca. Gli utilizzatori sono scienziati e ingegneri operanti nel settore elettronico coinvolti in attività quali ricerca nel campo dei materiali avanzati, caratterizzazione di wafer e di dispositivi a semiconduttore e produzione di prodotti finali come assemblaggi di componenti elettronici o dispositivi wireless portatili. Oltre a strumenti decisamente all'avanguardia, Keithley mette a disposizione una serie di servizi di supporto qualificati che permettono ai clienti di migliorare qualità, throughput e rese dei loro prodotti.

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