Si Amplia la Disponibilita’ di Sonde Avanzate per i Tester Parametrici di Keithley Instruments

Cleveland, Ohio, Giulio, 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato di aver proceduto alla qualificazione di FormFactor, Inc. (Nasdaq: FORM), la quale potrà quindi realizzare le sonde (probe cards) ad alte prestazioni per i tester parametrici per semiconduttori di Keithley.

Le sonde di FormFactor saranno utilizzate insieme ai tester parametrici della serie S600 di Keithley Instruments per misurare correnti continue (DC) di livello estremamente basso e per eseguire i test parametrici in continua standard sui pin che si trovano a contatto del wafer.

Le fonderie e i produttori di wafer utilizzano i tester della serie S600 per qualificare i wafer che devono essere sottoposti alle operazioni di assemblaggio e packaging così come per eseguire il monitoraggio del processo.

Le sonde della serie Takumi di FormFactor sono particolarmente indicate per tutte quelle applicazioni che prevedono l'utilizzo del tester più avanzato di Keithley, il sistema per il collaudo parametrico DC/RF mod. S680. Si tratta di un sistema espressamente concepito per il collaudo parametrico a livello di wafer di circuiti logici avanzati, memorie e integrati analogici.

Questo sistema permette di eseguire il collaudo parallelo, garantire un'elevata sensibilità in continua, assicurare una risoluzione a livello di femtoampere nonché effettuare misure dei parametri-s in RF fino a una frequenza di 40 GHz all'interno di un singolo strumento. Si tratta della soluzione in grado di garantire il minor costo di possesso e il più elevato throughput per misure che riguardano dispositivi realizzati con processi da 65 nm e inferiori.

Il mod. S680 è ideale per il collaudo ad alta velocità dove è richiesta un'elevata sensibilità. I preamplificatori del segnale, ubicati nella testa di collaudo, amplificano i segnali di basso livello provenienti dagli aghi della sonda, quindi trasmettono i segnali amplificati attraverso i cavi agli strumenti di misura posti nel cabinet del sistema. Questo tipo di approccio elimina le perdite di velocità e sensibilità tipicamente associate all'impiego di cavi e matrici di commutazione.

E' possibile collegare direttamente strumenti esterni agli aghi delle sonde mediate gli otto percorsi di tipo general-purpose disponibili.

Secondo Keithley l'avanzata tecnologia di FormFactor è ideale per tutte quelle applicazioni che prevedono piazzole e passi di dimensioni estremamente ridotti e che richiedono misure a elevate prestazioni in presenza di strutture di test e scribeline (ovvero lo spazio tra i die sul wafer) sempre più piccole.

"La qualificazione ottenuta da FormFactor — ha detto Mark Hoersten, vice president per le attività di business management di Keithley Instruments — è la dimostrazione del nostro impegno da un lato nel rendere disponibili le più recenti tecnologie nel campo delle sonde e del test parametrico e nell'ampliare dall'altro il numero di opzioni per i nostri clienti". "Le sonde di FormFactor — ha proseguito — sono una soluzione tecnologica ad alte prestazioni in grado di garantire la precisione richiesta per la misura dei componenti sempre più miniaturizzati utilizzati nelle attuali apparecchiature elettroniche".

"La possibilità di utilizzare la nostra piattaforma parametrica Takumi per i tester di Keithley Instruments — ha sostenuto Benjamin N. Eldridge, senior vice president per le attività di ricerca e sviluppo e chief technology officer di FormFactor — è importante per i clienti di entrambe le società. I produttori di semiconduttori devono appoggiarsi alle società che sviluppano soluzioni di test per disporre delle tecnologie di misura più avanzate da utilizzare per i dispositivi realizzati con processi da 65 nm o inferiori, soprattutto sotto forma di componenti di un sistema ad alto grado di integrazione. La collaborazione con Keithley, azienda che può vantare un know how di prim'ordine nel campo dei tester per semiconduttori utilizzati per le misure in continua a basso livello, ha permesso di ottimizzare le tecnologie di entrambe le società".

Per ulteriori informazioni sui tester parametrici mod. S680 DC/RF DC è possibile visitare il sito all'indirizzo: www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=680 o contattare direttamente la società all'indirizzo: www.keithley.com.

Note sulle società FormFactor

Fondata nel 1993, FormFactor, Inc. è un'azienda specializzata nello sviluppo di sonde per wafer impiegate dai produttori di semiconduttori per il collaudo elettrico dei circuiti integrati. I prodotti per il sorting dei wafer, il burn-in e il collaudo delle prestazioni dei dispositivi permettono di effettuare il test direttamente a livello di wafer, consentendo ai produttori di semiconduttori di ridurre i costi di produzione, migliorare la resa e introdurre sul mercato in tempi brevi i dispositivi della prossima generazione. Azienda con quartier generale a Livermore (California), FormFactor dispone di uffici in Europa, Asia e Nord America.

Note sulla società

Con un'esperienza di 60 anni nel campo della strumentazione di misura, Keithely Instruments è diventata un'azienda leader a livello mondiale nella realizzazione di sistemi e strumenti di collaudo elettrici dalla continua alla radiofrequenza. I prodotti della società sono in grado di soddisfare le nuove esigenze di misura nei settori del collaudo di produzione, monitoraggio di processo, sviluppo di prodotti e ricerca. Gli utilizzatori sono scienziati e ingegneri operanti nel settore elettronico coinvolti in attività quali ricerca nel campo dei materiali avanzati, caratterizzazione di wafer e di dispositivi a semiconduttore e produzione di prodotti finali come assemblaggi di componenti elettronici o dispositivi wireless portatili. Oltre a strumenti decisamente all'avanguardia, Keithley mette a disposizione una serie di servizi di supporto qualificati che permettono ai clienti di migliorare qualità, throughput e rese dei loro prodotti.

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