Collaudi impulsivi, C-V E I-V piu’ semplici, veloci ed economici con il nuovo Modulo C-V E Il Software disponibili per il Sistema 4200-SCS

Una foto ad alta risoluzione può essere scaricata dall’indirizzo: http://www.ggcomm.com/Keithley/4200-CV_PR.jpg

Cleveland, Ohio, SEMICON Europa, Stuttgart, October 9, 2007 * * *
Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato la disponibilità di un nuovo strumento per le misure C-V per il proprio sistema per la caratterizzazione dei semiconduttori mod. 4200-SCS (Semiconductor Characterization System). Il mod. 4200-CVU, fornito sotto forma di modulo da inserire in uno degli slot disponibili del mod. 4200-SCS, consente di effettuare in tempi brevi e con la massima semplicità misure di capacità dai femtoFarad (fF) ai nanoFarad (nF) a frequenze comprese tra 10 kHz e 10 MHz. Sviluppato utilizzando circuiti avanzati e ad alte prestazioni, il design del mod. 4200-CVU è coperto da 8 brevetti in attesa di omologazione. Gli elementi fondamentali cui si è ispirato il progetto sono stati la possibilità di effettuare un set up di tipo point-and-click, la semplicità di cablaggio e la disponibilità di modelli di elementi integrati grazie ai quali è possibile ottenere misure C-V valide senza ricorrere a complesse congetture. Di conseguenza tutti gli utilizzatori, indipendentemente dal loro livello di esperienza, possono effettuare senza problemi misure C-V. Ulteriori informazioni sono disponibili all’indirizzo: www.keithley.com/pr/078.

Il mod. 4200-CVU include la più ampia gamma di librerie di test al momento disponibile, in modo da incrementare l’efficienza in fase di collaudo. Quest’ultima può essere ulteriormente aumentata con l’impiego del mod. 4200-LS-LC-12, formato da una matrice di commutazione specifica e una scheda dotata di cavi e adattatori che consente di effettuare la misura C-V/I-V con un semplice contatto della sonda (prober). Il mod. 4200-PROBER-KIT (opzionale) semplifica il collegamento del mod. 4200-SCS con i prober più diffusi. In questo modo risulta possibile effettuare una misura C-V completa, semplice da impostare e da far girare, come se si trattasse di un test I-V.

Ampio supporto applicativo

Con queste recenti aggiunte al mod. 4200-SCS, Keithley Instruments ha conquistato la leadership nel campo della strumentazione per misure C-V ed è in grado di soddisfare la più ampia gamma di applicazioni con un singolo strumento per il collaudo dei semiconduttori, capace di supportare un gran numero di sonde, tipologia di dispositivi, tecnologie di processo e metodologie di misura – compreso il test I-V impulsivo. Il mod. 4200-CVU, unitamente ai suoi moduli opzionali, è in grado di risolvere i problemi che altri sistemi per la caratterizzazione non sono in grado di affrontare, in quanto non danno la possibilità di effettuare i test C-V/I-V e impulsivi in modo integrato, oppure dispongono di un supporto limitato per quanto concerne le interfacce utente e le librerie software. Potente e flessibile, l’engine per l’esecuzione dei collaudi permette di combinare in maniera estremamente semplice i test I-V, C-V e impulsivi all’interno della medesima sequenza di collaudo. Il mod. 4200-SCS può dunque sostituire un’ampia gamma di strumenti per il collaudo elettrico con un’unica soluzione di caratterizzazione contraddistinta da un elevato grado di integrazione. Tuttavia, il mod. 4200-SCS continuerà a supportare i test C-V/I-V/impulsivi e altre metodologie di collaudo sfruttando un’ampia gamma di strumenti forniti da terze parti. L’insieme di tali caratteristiche rende il mod. 4200-SCS/CVU la soluzione ideale per:

• laboratori che si occupano di sviluppo di tecnologie, di processi e di problematiche di affidabilità nel settore dei semiconduttori
• consorzi e laboratori coinvolti nelle ricerche nel campo dei materiali e dei dispositivi;
• laboratori che necessitano di uno strumento da banco per effettuare test impulsivi o in continua
• utenti e laboratori attivi nel comparto dei semiconduttori che necessitano di più strumenti destinati a molteplici usi di dimensioni compatte

Un software dalle grandi potenzialità

Una delle caratteristiche che ha sempre distinto il mod. 4200-SCS è la disponibilità dell’interfaccia (GUI) basata su Windows più intuitiva tra quelle presenti sugli altri sistemi per la caratterizzazione dei semiconduttori. La semplicità d’uso, costantemente migliorata sulla base delle informazioni e dei suggerimenti provenienti dagli utilizzatori, è un tratto caratteristico anche dei moduli hardware e software del mod. 4200-CVU, che rappresentano la naturale estensione del suo engine di esecuzione e dell’ambiente di test.

Keithley Instruments supporta l’ hardware del mod. 4200-CVU con un esteso set di programmi campione, librerie di test ed esempi di estrazione dei parametri già inclusi e pronti per l’esecuzione. Le otto librerie software mettono a disposizione la più ampia gamma di test e analisi C-V al momento disponibile. Esse coprono tutte le applicazioni standard, comprese le analisi e le misure C-V, C-t e C-f per strutture con valori sia alti sia bassi di K, MOSFET, BJT, diodi, memorie flash, celle fotovoltaiche, materiali semiconduttori composti dei gruppi III-V e dispositivi realizzati con nanotubi al carbonio (CNT). Oltre alle capacità di giunzione, tra i pin e quelle di interconnessione, il software per l’analisi e l’estrazione dei parametri fornisce i profili di drogaggio, lo spessore dell’ossido (Tox), la mobilità degli ioni e il tempo di vita dei portatori. Questi collaudi comprendono diversi spazzolamenti (sweep) C-V lineari e custom, come pure misure di capacità in funzione del tempo e della frequenza.

A differenza di quanto avviene per gli altri sistemi di caratterizzazione, i programmi di estrazione e analisi C-V/I-V di Keithley Instruments operano in un ambiente aperto ben documentato, consentendo agli utenti di effettuare con semplicità modifiche e personalizzazioni delle loro routine. I progetti campione integrati, sviluppati a partire dalle competenze acquisite dagli specialisti della società, contribuiscono a ridurre drasticamente i tempi di sviluppo.

Il mod. 4200-CVU è corredato da un insieme di tool diagnostici avanzati che rappresentano un prezioso ausilio nella verifica della validità dei risultati dei test C-V. Nel caso sussistano dubbi circa l’accuratezza del risultato di un test, è sufficiente cliccare sul tasto “Confidence Check” o utilizzare il pannello frontale in tempo reale per isolare le porzioni del setup di test per la validazione. Le possibilità offerte dal mod. 4200-SCS permettono all’utente di ottenere i migliori risultati a fronte di una sensibile diminuzione della curva di apprendimento. In questo modo, i responsabili dei laboratori possono risolvere in maniera efficace le problematiche legate alla necessità di incrementare la produttività e l’efficienza nella modellazione e nella caratterizzazione dei dispositivi.

Progettato per garantire un elevato throughput

Le doti di accuratezza di misura, velocità ed efficienza del mod. 4200-CVU sono in larga misura ascrivibili da un lato all’uso di componenti hardware digitali ad alta velocità e dall’altro alla spinta integrazione delle componenti hardware e software del mod. 4200-SCS, così come all’impiego di tecniche di progettazione di sistemi a basso rumore da parte di Keithely Instruments. In virtù di ciò, l’adozione del mod. 4200-CVU può contribuire a migliorare la produttività dell’utilizzatore sia nell’esecuzione di semplici compiti, come ad esempio l’impostazione di una singola misura o l’esecuzione di una sequenza di test preimpostata mediante un solo click del mouse, sia nell’espletamento di operazioni più sofisticate come il triggering o il tracciamento relativi a più spazzolamenti C-V. L’architettura digitale ad alta velocità del mod. 4200-CVU permette a quest’ultimo di eseguire e tracciare i grafici degli sweep C-V in tempo reale più velocemente di qualsiasi altro strumento per le misure C-V.

Ambiente di test estremamente versatile

Oltre a poter eseguire i test I-V/C-V e impulsivo all’interno di un ambiente di test flessibile e integrato, gli utenti del mod. 4200-SCS dispongono di numerose altre opzioni. Tra queste la possibilità di scegliere fino a otto SMU (Source-Measure Unit), generatori di forme d’onda e impulsi a doppio canale, oltre a un oscilloscopio digitale. Così come per il mod. 4200-CVU, tutti questi strumenti possono essere inseriti negli slot del mod. 4200-SCS e vengono controllati dall’ambiente software KTEI (Keithley Test Environment Interactive) versione 7.0. Questa interfaccia di tipo point-and-click semplifica il setup del test, il controllo delle sequenze di collaudo e l’analisi dei dati. Il software KTEI è anche in grado di controllare un’ampia gamma di strumenti esterni, tra cui i più diffusi prober, hot chuck e fixture di collaudo, così come le matrici di commutazione a elevata integrità di Keithley Instruments che garantiscono la massima flessibilità in termini di connessioni.

Protezione contro l’obsolescenza

Parecchi produttori di strumenti introducono a ritmo continuo prodotti non compatibili gli uni con gli altri e spesso l’arrivo di un nuovo prodotto significa la dismissione di quelli della precedente generazione, senza quindi nessuna protezione dell’investimento. La strategia di Keithley Instruments, che prevede continui aggiornamenti sia hardware sia software del mod. 4200-SCS, si traduce nel fatto che il modulo 4200-CVU, con il relativo software e l’hardware opzionale, può essere installato sul primo mod. 4200-SCS messo in commercio. Grazie a questo percorso di aggiornamento non risulta più necessario acquistare, a distanza di pochi anni, un nuovo analizzatore parametrico per mantenere il passo con l’evoluzione delle tecnologie dei dispositivi e dei materiali. I sistemi possono essere aggiornati in maniera economica per soddisfare le nuove richieste degli utilizzatori: in questo modo l’investimento fatto nel mod. 4200-SCS risulta essere di gran lungo più redditizio rispetto a quello effettuato in altre soluzioni di test presenti sul mercato. Inoltre, è possibile minimizzare il ricorso a componenti hardware esterni e il tempo richiesto per lo sviluppo di programmi di test.

Il mod. 4200-CVU è i kit opzionali saranno disponibili a partire dal 1° dicembre 2007. Ulteriori informazioni sono disponibili all’indirizzo: www.keithley.com/pr/078 . A questo indirizzo è possibile trovare spiegazioni circa i motivi per cui il mod. 4200-SCS rappresenta il tool più versatile per tutti i laboratori di semiconduttori che devono effettuare test in continua, C-V e impulsivi, oltre a informazioni sulle altre soluzioni per il test dei semiconduttori di Keithely Instruments.
Altre notizie sono disponibili sul sito Web della società all’indirizzo: www.keithley.com.

Note sulla società

Con un’esperienza di 60 anni nel campo della strumentazione di misura, Keithely Instruments è diventata un’azienda leader a livello mondiale nella realizzazione di sistemi e strumenti di collaudo elettrici dalla continua alla radiofrequenza. I prodotti della società sono in grado di soddisfare le nuove esigenze di misura nei settori del collaudo di produzione, monitoraggio di processo, sviluppo di prodotti e ricerca. Gli utilizzatori sono scienziati e ingegneri operanti nel settore elettronico coinvolti in attività quali ricerca nel campo dei materiali avanzati, caratterizzazione di wafer e di dispositivi a semiconduttore e produzione di prodotti finali come assemblaggi di componenti elettronici o dispositivi wireless portatili. Oltre a strumenti decisamente all’avanguardia, Keithley mette a disposizione una serie di servizi di supporto qualificati che permettono ai clienti di migliorare qualità, throughput e rese dei loro prodotti.

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