Accordo tra Keithley Instruments e Mesatronic per la realizzazione di Sonde per Misure Combinate DC/RF Economiche e ad alte Prestazioni da Utilizzare con i Tester Parametrici per Wafer

Accordo tra Keithley Instruments e Mesatronic per la realizzazione di Sonde per Misure Combinate DC/RF Economiche e ad alte Prestazioni da Utilizzare con i Tester Parametrici per Wafer

Cleveland, Ohio – November 2006 - Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha annunciato di aver stipulato un accordo con il gruppo Mesatronic (Voiron, Francia) finalizzato allo sviluppo di sonde (probe cards) avanzate per i tester parametrici per semiconduttori utilizzati per le misure in continua (DC) a basso livello e in radiofrequenza (RF).

"Le nuove sonde, la cui introduzione è prevista per la fine dell'anno - ha detto William Merkel, direttore del parametric tester product group di Keithley Instruments - potranno essere usate con i nostri tester parametrici per l'estrazione dei parametri RF e di corrente continua a basso livello su qualsiasi combinazione di pin di sondaggio che si trovano a contatto con il wafer". Le sonde per queste schede risulteranno adatte anche per le piazzole di test di dimensioni pari a 30 µm, ampiamente diffuse a livello industriale. Attualmente, l'esecuzione simultanea di misure RF e di correnti continue a basso livello è complicata dal fatto che le schede odierne dispongono di un numero limitato di pin per il sondaggio RF, che non possono essere impiegate per eseguire misure in continua a basso livello.

Le nuove sonde che permettono l'esecuzione delle misure DC/RF su ogni pin garantiscono un aumento del throughput del sistema di test, poiché tali misure possono essere effettuate nel corso di una singola inserzione del wafer, senza la necessità di sostituire le sonde e quindi caricare e allineare il wafer una seconda volta. Oltre a ciò, gli utilizzatori dei sistemi di test parametrici RF/DC di Keithley possono utilizzare una singola scheda standard per numerose applicazioni di collaudo di semiconduttori. Oltre a una sensibile riduzione dell'inventario, ciò contribuisce a prevenire errori di misura che si verificano nel momento in cui viene selezionata la sonda sbagliata in fase di setup del collaudo. Le nuove sonde risulteranno particolarmente utili per i produttori di circuiti integrati a radiofrequenza (RFIC), dispositivi per l'identificazione a radiofrequenza (RFID) e componenti per infrastrutture e handset mobili e wireless.

Uno sviluppo congiunto
L'elemento chiave per lo sviluppo di queste nuove sonde è la creazione di un trasformatore spaziale che interfaccia la sonda con una struttura circuitale a membrana flessibile situata nel centro del prober, dove sono attaccati gli aghi delle sonde. Il know how acquisito da Keithley nei circuiti di protezione (guard circuit) per misure RF e in DC sensibili e in altre tecnologie di interconnessione viene utilizzata per realizzare il percorso del segnale a larga banda e basse perdite attraverso la sonda che rappresenta un elemento cruciale per la sua realizzazione. Poiché tutte le geometrie di connessione nel progetto sono le stesse, è possibile diminuire i costi di produzione e i prezzi per gli utilizzatori dei sistemi di test parametrici.

La D.O.D ("Die-On-Die") Technology® brevettata di Mesatronic per il probing verticale sarà utilizzata per la realizzazione delle nuove schede: essa consente infatti di ridurre la lunghezza di lavatura (scrub lenght), risultando quindi ideale per le piazzole delle sonde da 30 µm. Le tradizionali sonde a sbalzo possono essere utilizzate solamente in presenza di piazzole di dimensioni superiori a 50 µm. Le nuove sonde, abbinate ai tester parametrici della serie S600 di Keithley Instruments, permetteranno l'esecuzione di misure DC/RF su un wafer con una singola inserzione per il monitoraggio del processo automatizzato. Ciò permetterà una calibrazione completamente automatizzata in una singola passata che può essere eseguita in tempi brevi durante il test senza necessità di verifica da parte di un operatore. Grazie alle nuove sonde, gli utilizzatori potranno misurare segnali RF e DC a basso livello utilizzando ciascuna combinazione dei pin del prober semplicemente cambiando il tipo di cablaggio e le terminazioni utilizzate per i pin DC e RF. Il sistema risultante, combinazione ottimale di elevate prestazioni, velocità, flessibilità, semplicità d'uso e compattezza dimensionale, garantirà notevoli vantaggi agli utilizzatori che potranno conseguire sensibili risparmi in termini di tempo, risorse e denaro.

Per ulteriori informazioni sui tester parametrici della serie S600 è possibile visitare il sito Web all'indirizzo: http://www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=S680, o contattare direttamente la società: www.keithley.com.

Note sulla società
Con un'esperienza di 60 anni nel campo della strumentazione di misura, Keithely Instruments è diventata un'azienda leader a livello mondiale nella realizzazione di sistemi e strumenti di collaudo elettrici dalla continua alla radiofrequenza. I prodotti della società sono in grado di soddisfare le nuove esigenze di misura nei settori del collaudo di produzione, monitoraggio di processo, sviluppo di prodotti e ricerca. Gli utilizzatori sono scienziati e ingegneri operanti nel settore elettronico coinvolti in attività quali ricerca nel campo dei materiali avanzati, caratterizzazione di wafer e di dispositivi a semiconduttore e produzione di prodotti finali come assemblaggi di componenti elettronici o dispositivi wireless portatili. Oltre a strumenti decisamente all'avanguardia, Keithley mette a disposizione una serie di servizi di supporto qualificati che permettono ai clienti di migliorare qualità, throughput e rese dei loro prodotti.