Misure Impulsive Migliorate con la Nuova Versione del Software di Test di Keithley Instruments
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Misure Impulsive Migliorate con la Nuova Versione del Software di Test di Keithley Instruments Una foto ad alta risoluzione dei modd. PXI è disponibile all'indirizzo: http://client.ggcomm.com/Keithley/Art/KTEI61.JPG Cleveland, Ohio, Novembre 2006 * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), società attivamente impegnata nello sviluppo di soluzioni adatte a soddisfare le nuove esigenze di misura, ha reso noto l’introduzione di KTE Interactive V6.1, una versione aggiornata del software di misura KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori mod. 4200-SCS (SCS – Semiconductor Characterization System). Il nuovo software KTEI 6.1 permette di incrementare le possibilità di misura I-V impulsive del package 4200-PIV (Pulse I-V) di Keithley e migliorare sensibilmente la correlazione delle misure in continua e impulsive. Ulteriori informazioni sono disponibili all’indirizzo: www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=4200-SCS Il collaudo impulsivo è una nuova tecnica di caratterizzazione che sta acquisendo un’importanza sempre maggiore. Gli impulsi a elevata velocità permettono di eliminare danni potenziali provocati dall’auto-riscaldamento e vengono utilizzati per caratterizzare i nuovi dispositivi e materiali per semiconduttori, in applicazioni quali l’intrappolamento della carica, per la caratterizzazione degli stack dei gate realizzati con materiali a elevata costante dielettrica (high-k). Il package PIV mod. 4200 di Keithley Instruments permette di ampliare le potenzialità del sistema per la caratterizzazione dei semiconduttori mod. 4200 grazie all’integrazione di funzioni di analisi e di generazione dell’ impulso per la caratterizzazione di materiali e dispositivi. La release 6.1 di KTEI dispone di nuovi driver integrati per i generatori di impulsi della serie 3400 di Keithley Instruments. Tali driver semplificano l’integrazione dell’SCS mod. 4200 con i generatori della famiglia 3400 nell’ambiente di test, per consentire l’esecuzione di una vasta gamma di misure di tipo impulsivo. KTEI V6.1 è un aggiornamento software che può essere installato sul campo con estrema semplicità. L’introduzione di questa nuova versione del software KTEI è una chiara dimostrazione del fatto che Keithley è fortemente impegnata da un lato a migliorare ulteriormente i propri tool di misura e dall’altro a offrire percorsi di migrazione e aggiornamenti a costi ridotti, fattori questi che non trovano molti altri riscontri tra le altre aziende operanti nel campo dei sistemi di collaudo. I continui miglioramenti apportati permettono a Keithley Instruments di garantire la protezione degli investimenti, consentendo agli utilizzatori di procedere ad aggiornamenti delle componenti hardware e software in base alle effettive esigenze, senza costringerli ad acquistare dopo pochi anni nuovi setup hardware. KTEI V6.1 è disponibile a titolo gratuito per i clienti che utilizzano la release 6.0 di questo software oppure può essere acquistato come parte di numerosei opzionie per l’aggiornamento di diversi sistemi. Il mod. 4200-PIV è disponibile sotto forma di nuova opzione o come aggiornamento di sistemi già installati a partire da 30.000 dollari. Per ulteriori informazioni sul software KTEI V6.1 o su qualsiasi altra soluzione per misura e collaudo di Keihely Instruments è possibile visitare il sito Web all’indirizzo: www.keithley.com/products/semcondutor/?mn=4200-SCS o contattare direttamente la società ai seguenti recapiti: www.keithley.com Note sulla società * * * |
Ultima modifica 2006-11-28