Cleveland, Ohio, Dicembre 2006 * * * * Keithley Instruments Inc. (NYSE: KEY), ha annunciato l’introduzione del release 5.2 del proprio software KTE (Keithley Interactive Test Environment) per i sistemi di test parametrici della Serie S600. KTE V5.2 si distingue per la presenza di numerose caratteristiche che permettono di incrementare in maniera sensibile il throughput nel corso del collaudo dei materiali usati nella realizzazione dei circuiti più avanzati, come quelli che operano a livello di radiofrequenza, nonché di una serie di migliorie in termini di routine per il collaudo parallelo utilizzate nei laboratori e in produzione. Oltre a ciò la nuova release 5.2 è contraddistinta da significativi miglioramenti per quel che riguarda la semplicità d’uso, che si traducono in una semplificazione della fase di collaudo. Ulteriori informazioni relative al software KTE V5.2 sono reperibili sul Web all’indirizzo: www.keithley.com/pr/067
L’introduzione di questa nuova release è una dimostrazione dell’impegno profuso da Keithley nel favorire il riutilizzo delle apparecchiature esistenti e il miglioramento delle prestazioni, entrambe finalizzate alla riduzione dei costi complessivi di collaudo. La società è attivamente impegnata nel soddisfacimento delle esigenze, in continua evoluzione, espresse dai clienti, come ad esempio la possibilità di effettuare collaudi sempre più completi nelle fasi iniziali del processo e di acquisire insiemi di dati relativi alla radiofrequenza significativi dal punto di vista statistico per la calibrazione del modello.
Il software KTE è un ambiente per l’esecuzione e lo sviluppo di test sui wafer in grado di “guidare” gli ingegneri di collaudo durante le fasi di pianificazione del test. Gli utenti possono generare collaudi elettrici individuali a livello di sottosito (subsite) sfruttando librerie pre-definite di test e definendo successivamente i parametri e i collegamenti.
KTE V5.2 è stato sviluppato per operare con i sistemi per i test parametrici della serie 600 di Keithley. Queste apparecchiature vengono utilizzate per un’ampia gamma di test, compresi quelli per il controllo di processo, la sincronizzazione e l’ottimizzazione di apparecchiature e processi, il collaudo di wafer, la caratterizzazione e modellizzazione di dispositivi. Questi sistemi sono stati utilizzati dall’industria dei semiconduttori per più di cinque generazione di nodi tecnologici, quindi per un periodo di tempo estremamente lungo che ha consentito un largo riutilizzo delle apparecchiature esistentie e ha comportato per i clienti una sensibile riduzione dei costi di collaudo.
Supporto migliorato per il collaudo parallelo
Tra le migliorie più significative di KTE V5.2 vi sono quelle relative al supporto del test parallelo. Il test parallelo è divenuto il metodo principale per migliorare il throughput e ridurre il costo dei test dei semiconduttori in quanto permette agli utenti di acquisire un numero maggiore di dati a parità di tempo di test durante lo sviluppo del processo o la medesima quantità di dati in un tempo inferiore durante la produzione in volumi. Tra le nuove caratteristiche da annoverare il supporto completamente certificato per PT_Execute, una routine software che permette una veloce valutazione del test parallelo rispetto a quello seriale. I metodi di valutazione più datati richiedevano l’uso di complicati manuali, il che comportava dispendio di tempo e di risorse ingegneristiche. La routine PT_Execute può essere fatta girare premendo solo pochi tasti, con conseguente sensibile riduzione dei tempi di sviluppo e dei costi di possesso. Un altro elemento innovativo è rappresentato da FMI (Force-measurement Interlock), una soluzione combinata firmware/software che permette di ridurre il crosstalk, il rumore e la variabilità delle misure dei risultati di test.
Miglioramento del collaudo RF
I miglioramenti integrati nel software KTE V5.2 relativi al test RF, che comprendono anche quelli per la calibrazione LMR, rappresentano un notevole balzo in avanti rispetto alle tecniche esistenti, in quanto consentono di correlare misure e calibrazione in un ambiente di produzione. Tali migliore rappresentano l’ideale complemento del sistema di test parametrico S680 dotato di funzionalità di misure RF, che può effettuare simultaneamente misure RF e in continua estremamente precise, risultando quindi idoneo all’uso sia in laboratorio sia in produzione.
Descrizioni più dettagliate dei messaggi di errore contribuiscono a semplificare la ricerca guasti (troubleshooting). Un’altra miglioria che val la pena segnalare è il tracciamento dei touchdown (punti di contatto) del sito di calibrazione al fine di prevedere l’usura della punta della sonda. Il software per il test RF consente di ridurre in maniera considerevole e in tempi brevi il numero dei dati presenti in insiemi di dati di ampie dimensioni per determinare i principali parametri RF di interesse, una funzionalità molto importante per poter eseguire il controllo di processo in tempo reale.
Maggiore supporto per i sottosistemi
Il software KTE V5.2 è in grado di supportare in maniera più efficiente i sottosistemi di strumentazione embedded in modo da incrementare sensibilmente il throughput complessivo. E’ possibile ottimizzare una vasta gamma di sottosistemi, compresi un misuratore LCR che migliora il throughput delle misure di capacità di un fattore massimo pari a due, un analizzatore di spettro e i generatori di impulsi e di pattern della serie 3400. Questi ultimi sono in grado di soddisfare la crescente richiesta di collaudo impulsivo durante la caratterizzazione di avanzati dispositivi a semiconduttore e la ricerca di nuovi materiali. Queste applicazioni sono sempre più diffuse a causa della continua riduzione delle dimensioni dei dispositivi e dell’aumento delle velocità di funzionamento di parecchi componenti elettronici.
Massima semplicità d’uso
Anche in termini di semplicità d’uso questa nuova versione del software di Keithley si distingue per alcune migliorie. Quelle apportate a KRM (Keithley Recipe Manager) consentono la gestione e l’editing di più prescrizioni (recipe) con ingresso da una sola prescrizione (routine di test), in modo da minimizzare l’intervento dei programmatori. Tra le altre caratteristiche si possono menzionare la sottolineature del testo reperito durante un’operazione di ricerca e l’aggiunta di una funzione di Undo per l’editing durante l’ingresso dei dati.
Ulteriori informazioni sull’ambiente di test KTE V5.2 o su qualsiasi altra soluzione di collaudo per i semiconduttori sono disponibili all’indirizzo www.keithley.com/pr/067. Oppure sul sito Web della società all’indirizzo: www.keithley.com
Note sulla società
Con un’esperienza di 60 anni nel campo della strumentazione di misura, Keithely Instruments è diventata un’azienda leader a livello mondiale nella realizzazione di sistemi e strumenti di collaudo elettrici dalla continua alla radiofrequenza. I prodotti della società sono in grado di soddisfare le nuove esigenze di misura nei settori del collaudo di produzione, monitoraggio di processo, sviluppo di prodotti e ricerca. Gli utilizzatori sono scienziati e ingegneri operanti nel settore elettronico coinvolti in attività quali ricerca nel campo dei materiali avanzati, caratterizzazione di wafer e di dispositivi a semiconduttore e produzione di prodotti finali come assemblaggi di componenti elettronici o dispositivi wireless portatili. Oltre a strumenti decisamente all’avanguardia, Keithley mette a disposizione una serie di servizi di supporto qualificati che permettono ai clienti di migliorare qualità, throughput e rese dei loro prodotti.
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