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Analizzatore Parametrico per semiconduttori
Per test parametrici che aumentano la produttività di tecnici ed ingegneri che lavorano nei reparti di ricerca e sviluppo. Il sistema di caratterizzazione di semiconduttori modello 4200 SCS combina, in un sistema di caratterizzazione completamente integrato, una caratterizzazione dei dispositivi tramite CC con qualità "laboratory grade" e tramite impulsi, una rappresentazione grafica in tempo reale ed un'analisi con risoluzione ad alta precisione e sub-femptoampere. Le opzioni disponibili comprendono il modello 4210-CVU Capacitance-Voltage Unit, il modello 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module, il modello 4220-PGU Pulse Generator Unit e il modello 4225-RPM Remote Amplifier/Switch. Il software ACS Edizione Base di Keithley è ottimizzato per i test di componenti e dispositivi a semiconduttori discreti (dotati di package).
Model ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software for Component and Discrete Devices
  • Caratterizzazione di componenti di semiconduttori
  • Analisi dei guasti
  • Facilmente adattabile alle applicazioni di nuove tecnologie
  • Libreria di centinaia di test di dispositivi standard
  • Supporto dell'intera gamma di strumenti SourceMeter di Keithley e altri ancora
Model 4200-CVU Integrated C-V Option for the Model 4200-SCS
  • Interfaccia utente intuitiva basata su Windows
  • Soluzione per singoli strumenti
  • Generazione I-V, C-V e a impulsi e I-V a impulsi
  • Librerie di applicazioni incluse per ogni tecnologia
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