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Soluzione per test di affidabilità su semiconduttori
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • Interfaccia interattiva
  • Sequenziazione flessibile dei test
  • Strumento di sollecitazione/misura potente
  • Formulatore per analisi di parametri e adattatori di linea
  • Analisi punta e clicca semplice
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • Test parallelo SMU-per-pin reale
  • Temporizzazione e sincronizzazione di precisione
  • Configurabile da 2 a 44 SMU in un solo rack
  • Funzionamento manuale e automatico
  • Possibilità di aggiungere hardware, piani di test e librerie a seconda delle necessità
  • Compatibile con comuni sonde completamente automatiche
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • Controllo del looping di sollecitazione/misura
  • Compatibile con numerosi metodi di test standard JEDEC
  • Librerie complete di test pre/post sollecitazione/misura
  • Formulatore per analisi di parametri e adattatori di linea
  • Foglio elettronico con strumenti di analisi
  • Strumento di rappresentazione grafica con funzionalità complete
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