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Semiconductor Source Measure Units (SMUs)
Per i test sui semiconduttori offriamo due diverse linee di Source Measure Unit. La linea SourceMeter di sistema della serie 2600A presenta un'architettura Test Script Processor (TSP®) e garantisce una capacità di misura in modalità pulsata ad alta velocità, l'esecuzione di test in parallelo e un'estrema precisione, assicurando in questo modo la potenzialità produttiva più elevata dell'industria e riducendo, allo stesso tempo, i costi dei test. Il nostro SourceMeter a tensione elevata, modello 2410, costituisce una scelta eccellente per resistori, test del coefficiente di tensione, varsistori, diodi ad alta tensione, inclusi diodi di commutazione, diodi zenzer e diodi RF, e raddrizzatori, mentre il nostro SourceMeter 1kW Pulse, modello 2430, è ideale per misurare la tensione di scarico distruttiva di molti tipi di dispositivi a potenza elevata, inclusi varsistori multi-strato (MLV) e componenti di semiconduttori.
Model 2602A Dual-channel System SourceMeter Instrument (3A DC, 10A Pulse)
  • Test e caratterizzazione di dispositivi CC di precisione e CC a impulsi
  • Ampio campo dinamico: da 1 fA a 10 A (impulsi) e da 1 µV a 200 V
  • Collegamenti triassiali standard (Modelli 2635A e 2636A)
  • Potenza di inviluppo 20 W
  • Comando GPIB, Ethernet e pannello anteriore
Model 2410 High-Voltage SourceMeter w/ Measurements up to 1100V and 1A, 20W Power Output
  • Test e caratterizzazione di dispositivi CC ad alta potenza
  • Potenza di inviluppo fino a 100 W CC o fino a 1 kW impulsi CC
  • Campo di tensione da 1 µV a 1100 V
  • Campo di corrente da 10 pA a 10.5 A
  • Comando di GPIB e pannello anteriore
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